产品展示
TPY-2型自动椭圆偏振测厚仪
【简单介绍】
【详细说明】
产品特点:
仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。
仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。
规格与主要技术指标:
测量范围:1nm-4000nm 测量zui小值:≤1nm 入射角:30°- 90°精度≤0.05°
度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤18mm
偏振器方位角范围:0°- 180° 外形尺寸:680*390*310mm
测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005
主机重量:26kg
仪器测量精度:±0.5nm(薄膜厚度在10-100nm时)
光学中心高度:80mm 成套性:主机、电控系统、USB接口、配套软件
成套性:主机、电控系统、USB接口、配套软件(需配计算机)
相关产品
- 信息光学实验系列
- WJS-1型激光散斑实验装置
- WSG-1型电子散斑干涉(ESPI)实验装置
- WSZ-4A型手动偏振光实验装置
- WSY-3A型自动偏振光实验装置
- WSY-5型阿贝成像和θ调制
- WSY-4 型菲涅尔衍射实验装置
- WSY-2 型干涉测量实验装置
- WSY-1 型几何光学实验装置
- WYM-1型CCD 杨氏模量测量仪
- WSZ-2A 型自动衍射光强实验装置
- OCS-1型光通信实验系统
- WGX系列光纤信息与光通信实验系统
- FST-2 型纤维光学实验仪
- FST-1 型光纤光栅传感实验仪
- TPY-2型自动椭圆偏振测厚仪
- TPY-1 型椭圆偏振测厚仪
- HC-5 型脉冲核磁共振实验仪
- HC-3 型核磁共振实验仪
- WHS-1型黑体实验装置
- WDS-1/1A型色度测量实验装置
- XGL-3 型He-Ne激光器模式分析实验装置
- XGL-2型半导体泵浦激光原理实验系统
- WGN-1型激光能量指示仪(激光功率计)
- XGL-1型脉冲Nd:YAG激光器实验装置
- XFT-1 型傅立叶变换实验装置
- WSZ-5A 型单光子计数实验系统