特性: |
1 本设备能连续自动测试薄膜电容的八个参数:低电平开路(C0)、10KHz(D10)直流耐压(DCTV)、交流耐压(ACTV)、绝缘电阻(IR)、100KHz损耗(D100)、1KHz损耗(D1)和容量分选(△C),并自动分档。 |
2 本设备采用PLC控制,触摸屏操作,速度采用变频控制器连续可调。 |
3 本设备采用进口分割器控制、停止测试,采用四端测量的测试方式使测试精度相对提高。 |
主要技术指标: | |
1.试验检出RT没有容量的产品自动除去。 |
2.SH检出:测试电压在DC1.5V时,阻值小于2KΩ判定为不良及排除 |
3.低电平开路:C0(TH2817A)10KHZ频率下,测量其损耗值,超过设定值为不良及排除 |
4.AC耐压测试: | a、6级独立AC耐压测试,在设定电压下,超过设定电流为不良及排除。设定电压为0-2KV,电流为0.1mA-1999mA。 |
b、此耐压测试为有产品在端子上,通过SSR控制,有电压加上,如没有产品,此端子没有电压。 |
5.直流耐压测试: | 测试电压为DC200V-5000V,测试设定电流为1mA,10mA,如超过设定值为不良。 |
6.IR绝缘测试: | a、测试电压为DC50V,100V,250V,500V。 b、测定范围在1.00MΩ-199.9GΩ,低于设定值为不良。 |
7.100KH测试(TH2817A):在100KHZ状态下,测试其tgδ值,超过此值为不良 |
8.1KHZ测试容量损耗(TH2817A):在1KHZ状态下测试C1,C2,D2。 |