MC-2000C漆膜测厚仪

MC-2000C型涂（镀）层测厚仪是*的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操用简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、低电压指示、其性能达到当代同类仪器的*水平。

工作原理 ：
MC--2000C型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。
技术 参数
1、测量范围 ：0~5000μm
2、测量误差：<3%±1μm
3、zui小示值：　1μm
4、显示方式 ： 4位液晶数字显示
5、主要功能：
   1.测量：  单探头全量程测厚
   2.存储：  可存入测量数据254个
   3.读：　  读出已存入测量数据
   4.校正：  随机标准试片校正
   5.打印：  选配微型打印机
6、电源： 　　3.6v充电电池
7、功耗：   　zui大功耗100mw
8、外形尽寸： 50mm＊95mm＊24mm
9、重量：　　150g
10、使用环境温度：0℃~+40℃相对湿度：不大于90%
11、基体zui小厚度：   0.2mm
12、基体zui小平面：   7mm
13、zui小曲率半径：  凸:1.5mm  凹:6mm
14、 欠电压指示：   左下角显示＂欠＂
 ＊临界厚度小-----工件铁基厚度大于1mm时,其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度影响。