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X光镀层测厚仪及ROHS原素分析仪是在XRF-2020系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能
X 光镀层测厚仪及 ROHS 原素分析仪是在 XRF-2020 系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，其物点为： 高分辨率，固态探测器 ; 分析有害物质，元素分析分之 ppm - 100 ％ , 符合 RoHS / WEEE 标准测试以及 ELV 指令优化的应用 ; 可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析；电镀溶液分析；定性分析超过 30 种元素 , 能够测量液体，固体，粉末，薄膜和不规则形状；贵金属元素含量和分析（金，银，铂，和珠宝）；自动过滤器，多准直仪 ( 五个准直器，从 0.1mm-3.0mm) 和全自动 XYZ 移动样品台；性价比的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器
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