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仪器采用*的技术制造,测角仪测角准确度与度均达到当前世界*水平
仪器采用*的技术制造,测角仪测角准确度与度均达到当前世界*水平。光源与探测器能长时间稳定工作,保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、。进行物相结构分析,包括:物相含量、晶粒大小判断、结晶度、奥氏体含量、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、物相结构等分析;薄膜材料分析,小角粒径分析等。仪器包括高稳定性X射线发生器、高精密测角仪、封闭正比探测器(或SDD探测器、或一维高速半导体阵列探测器)、数据处理软件、相关应用软件等。
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