XRF-350B是专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品。打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。采用美国型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品。
一、XRF-350B机型指标介绍 1.1 工作条件工作温度：15-30℃相对湿度：40%～50% 电 源：AC :220V ±5V 1.2 技术性能及指标:1.2.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；1.2.2 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；1.2.3 测量时间：100-300秒；1.2.4 RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度达1PPM； 1.2.5 能量分辨率为160±5电子伏特；1.2.6 温度适应范围为15℃至30℃；1.2.7 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。） 1.3 产品特点1.3.1 XRF-350B是专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品。1.3.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。1.3.3采用美国型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。1.3.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。1.3.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。1.3.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。1.3.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品。1.3.8*的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。1.3.9的机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。1.3.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。1.3.11ROHS专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。1.3.12本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。 二、仪器硬件部分主要配置 2.1 Si-pin电制冷半导体探测器（型探测器）2.1.1 Si-pin电制冷半导体探测器；分辨率：160±5电子伏特2.1.2 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。 2.2 X射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出：1mA；2.2.2 属于半损耗型部件，50W，空冷。 2.3 高压发射装置2.3.1 电压输出： 50kV；2.3.2 最小5kv可控调节2.3.3 自带电压过载保护 2.4 多道分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。2.4.2 道数： 4096；2.4.3 包含信号增强处理 2.5 光路过滤模块2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。2.5.2 将准直器与滤光处整合； 2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达8种选择，口径分别为8＃, 6＃, 4＃, 3＃，2＃, 1＃, 0.5＃,0.2＃。 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 六种滤光片的自由选择和切换。 2.8 工作曲线自动选择模块2.8.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化，演绎得更，使操作更人性，更方便。 三、专用软件3.1软件简介专门针对ROHS检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。3.2功能介绍※专门应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的六种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr，Cl测试，测量时间为100-300秒※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确。※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器。※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印。※可同时显示多个光谱图※的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。
四、样品配置 标准样品用于制作工作曲线4.1 样品腔 开放式大样品腔 4.2 标样 欧盟标样E60K 纯银样品 五、产品保修及售后服务 5.1 对客户方操作人员免费进行培训。5.2 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。5.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器自验收合格之日起保修一年。5.4 产品终身维修。（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证，发票和保修卡等）5.5 免费提供软件升级；5.6 提供的技术服务，在接到用户故障信息后，5分钟内响应，如有需要，5小时内派人上门维修和排除故障。 仪器硬件部分主要配置：
2.1 Si-pin电制冷半导体探测器（型探测器）
2.1.1 Si-pin电制冷半导体探测器；分辨率：160±5电子伏特
2.1.2 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。
2.2 X射线激发装置
2.2.1 灯丝电流输出：1mA；
2.2.2 属于半损耗型部件，50W，空冷。
2.3 高压发射装置
2.3.1 电压输出： 50kV；
2.3.2 最小5kv可控调节
2.3.3 自带电压过载保护
2.4 多道分析器
2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。
2.4.2 道数： 4096；
2.4.3 包含信号增强处理
2.5 光路过滤模块
2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。
2.5.2 将准直器与滤光处整合；
2.6 准直器自动切换模块
2.6.1 多达8种选择，口径分别为8＃, 6＃, 4＃, 3＃，2＃, 1＃, 0.5＃,0.2＃。
2.7 滤光片自动切换模块
2.7.1 六种滤光片的自由选择和切换。
2.8 工作曲线自动选择模块
2.8.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化，演绎得更，使操作更人性，更方便。
技术性能及指标:
1.2.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U)；
1.2.2 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；
1.2.3 测量时间：100-300秒；
1.2.4 RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度达1PPM；
1.2.5 能量分辨率为160±5电子伏特；
1.2.6 温度适应范围为15℃至30℃；
1.2.7 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）
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