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北京中科中仪科技有限公司
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美国SOC公司ET100发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。
美国SOC公司ET100发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。
ET100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。
ET100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。
应用领域
航空工业
涂层领域
太阳能领域优化太阳能利用性能
节能建筑
光学材料质量控制
产品特点
测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数
NIST标准
快速、便携
电池操作非常方便
测量标准和60°入射角的定向热发射比
计算半球热发射比
技术参数
符合标准 ASTM E408
测量参数 定向半球反射比(DHR)
测量方法 波段范围内积分总反射比
输出参数 总发射比
波段 6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm
入射角 20°&60°法线入射
样品表面 任何表面，6"半径凸面，12"半径凹面
测量时间 10秒/次；90秒预热
IR源 铬铝钴合金
测量探头 模块化设计，测量头可更换
操作界面 触摸式液晶屏软件界面
工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝
供电 两块可充电镍氢电池
重量 2.1Kg，含电池
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