MAXXI 5荧光镀层测厚仪 返回列表页

MAXXI 5 拥有牛津仪器好大的样品舱。不论配置正比计数器或半导体探测器，MAXXI 5是不同形状和尺寸部件金属表面处理的一个多功能的工具。可选的程控样品台便于样品正确定位或扫描来验证电镀一致性。

微聚焦XRF镀层测厚及材料分析光谱仪，可用于电镀、PVD和CVD操作的快速质量控制和验证测试，不论您在检测小配件、大组件或复杂配件，都能让您在几秒内轻松得到正确的结果。

我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析，可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。

优化的微聚焦硬件和直观的用户界面，简化了常规分析，提高了产出，使用“一键式"操作可确保好简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。

所有牛津仪器微聚焦XRF分析仪器符合ASTM B568，可测量单层和多层涂层，包括合金层。他们可以按电镀液或合金分析来校准。X-Strata和MAXXI系列产品的设计满足质量控制或过程控制程序，以及研究实验室的应用。

X-Strata, Eco 和 MAXXI 系列产品是专为分析功能性镀层而设计的。