X射线膜厚测试仪 返回列表页

　　在化工、电子、电力、金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法，这样，便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为“覆层"。覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测*的zui重要的工序。　

       对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。主要分为磁性镀层测厚仪、电涡流镀层测厚仪，X射线镀层测厚仪三类测量方法。　　

　　X射线膜厚测试仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。　

　　X射线膜厚测试仪的产品特点：　　

　　1、良好的射线屏蔽作用。　　

　　2、测试口高度敏感性传感器保护。　　

　　3、高分辨率探头使分析结果更加精准。　　

　　4、满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。　　

　　5、φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。　　

　　6、高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm。　

　　7、采用高度定位激光，可自动定位测试高度。　　

　　8、定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。　　

　　9、鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点。