iEDX-150WT镀层膜厚仪X射线光谱仪 返回列表页

（一）iEDX-150WT 镀层膜厚仪X射线光谱仪产品优势

1. 镀层检测，多镀层检测可达 5 层，精度及稳定性高。

2. 平台尺寸：620*525mm，样品移动距离可达 110*110*5mm。（固定台可选）

3. 激光定位和自动多点测量功能。

4. 可检测固体、粉末状态材料。

5. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。

6. 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。

7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结

果。

8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

9. 软件*升级。

10. 无损检测，一次性购买标样可长期使用。

11. 使用安心无忧，售后服务响应时间 24H 以内，提供*保姆式服务。

（二）iEDX-150WT 镀层膜厚仪X射线光谱仪配置及技术指标

1. X 射线管：高稳定性 X 光光管，微焦点 X 射线管、Mo (钼) 靶

铍窗口， 阳极焦斑尺寸 75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。

50kV，1mA。高压和电流设定为应用程序提供良好性能。

2. 探测器：SDD 探测器（可选Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

3. 滤光片/可选

初级滤光片：Al滤光片，自动切换

7个准直器：客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

（三）X射线镀层测厚仪测量原理