iEDX-150μWTX射线测厚仪 返回列表页

（一）iEDX-150μWT X射线测厚仪产品优势

1. 镀层检测，多镀层检测可达5层，精度及稳定性高（见以下产品特征详述）。

2. 多导毛细管配置，光斑尺寸50um

3. 平台尺寸：620*525mm，样品移动距离可达250*250mm。

4. 激光定位。

• 可检测软硬板电镀层厚度。

• 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。

• 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。

• 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果。

• 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

• 软件*升级。

• 无损检测，一次性购买标样可长期使用。

• 使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供*保姆式服务。

• 可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。

（二）iEDX-150μWT X射线测厚仪产品特征

• 高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

• 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）。

• Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析。

• MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度分析

多镀层厚度同时测量

4.1 单性金属镀层厚度测量。

4.2 合金镀层厚度测量。

4.3 双镀层厚度测量。

4.4 双镀层（其中一层是合金）厚度测量。

4.5 三镀层厚度测量。

4.6 测量点大小：50um。