COMPACT ECO X射线镀层测厚仪 返回列表页

COMPACT EcoX射线荧光光谱仪用于合金分析和鉴定

一、功能

1、采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

2、镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

3、镀层层数：多至5层。

4、测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.6毫米。

5、测量时间：通常30秒。

6、样品尺寸：380mm长×340mm宽×250mm高。

7、测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。

8、可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。

二、特点和数据

1、采用基本参数法校准，可在无薄膜标样情况下生成校准曲线以完成测量。

2、X射线采用从上至下的照射方式，即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之，如果是从下至上的照射方式，遇到表面凹凸的样品，无法调整Z轴距离，导致测量光程的变化，引起测量的误差。例如（举例不同距离导致的误差数据）。

3、开放的校准模式，用户可自行建立校准曲线不受仪器厂家限制。

4、提供符合NIST美国国家标准技术协会要求，A2LA美国实验室协会认证的标准样品，可验证测量结果并让实验数据具有可追溯性。

5、Windows 7操作系统，数据可存储，转移，并可一键生成包含测量数据、统计值、样品图片和趋势图等要素的报告（word格式）。