HAST高压加速寿命试验箱系列:满足温度范围 +105℃~+135℃,湿度65% ~ 99%R.H型号: KM-HAST-55生产方式:非标定制品牌: KOMEG产地:广东松山湖
产品特点 内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
采用高效真空泵,使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。
采用7寸真彩式触摸屏,拥有250组12500段程序,具有USB曲线数据下载功能,RS-485通讯接口。
汽车级硅胶整体密封条,气密性好,耐用。
全自动补水功能,前置式水位确认。
采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为:干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。
产品结构说明 1、冷凝器
采用高效翅片风冷冷凝气有助于磁流体散热。
2、控制系统
采用科明自主研发7寸真彩式触模屏搭载M-5160压力温湿度版控制系统,智能设置,操作简便。
3、实验室
内胆采用双层圆弧设计可以防止试验结露水现象,从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
4、真空系统
采用高品质油雾过滤器和节能环 VALUE保真空泵有效免喷油,冒烟,保证设备可靠。
5、电装系统
标准化配电工艺多重电路保护装置,可有效保护设备和人员使用安全。
6、箱体材质
优质防腐电解板,表面静电粉体烤漆,颜色为科明经典蓝灰搭配。
满足试验标准 GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A
产品用途 HAST/HALT试验箱适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。
应用领域
广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。