半导电四探针电阻测试仪 返回列表页

半导电四探针电阻测试仪采用一体化结构设计，将粉末比电阻的测量与粉体电阻率/电导率分析为一体，测量与数据分析通过PC软件完成，粉体压强与电阻值、电阻率、电导率值的变化关系；粉体受到压缩直至平稳时，描述了粉体在压缩体积变化过程中，电性能的变化趋势，还可描述粉体压缩后压力减少过程中粉体因自身特性内聚力形变或恢复过程变化曲线图谱；采用自动操作模式运行，自动数据分析与管理。四端法测量模式。

半导电四探针电阻测试仪

电阻测量范围： 
1、电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

电   阻：1×10-5～2×105Ω

电导率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  最小1μΩ
测量误差±5%
2、测量电压量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   测量精度±（0.1%读数）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。
   ⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶误差：±0.2%读数±2字

4. 主机外形尺寸：330mm*350mm*110mm

 采用PC软件自动测量，自动读取样品压缩过程中高度以及实时电阻/电阻率/电导率过程数据.

自动生成报表，描述过程变化曲线图谱，自动步进加压，自动脱模，自动恒压测量，USB和232通讯端口，四端法测量模式，恒流源测量，自动档位切换，可选择压力量程，紫铜度金电极，

旋转式电极结构，操作便利.

公司还有需要对电性能进行分析的导电性粉末，如：锂电池材料、石墨烯、石墨类、碳素粉末、焦化、石化、粉末冶金等生产加工企业部门；高等院校、科研部门，质量检验机构，质量管理部门，研发部门等。