WLP-205型平均粒度仪 返回列表页

WLP-205型平均粒度测定仪(即费氏粒度仪)是一种利用空气透过法来测定各种粉末材料平均粒度的仪器，由于不受材料结团对测量的影响，测试的粒度重复性非常的好，精度高，由于仪器结构简单，操作方便，造价低，性能稳定,自1978年投产以来,，广泛应用于硬质合金，磁性材料,化工材料，医药，陶瓷等工业上。四十年来深受国内外用户好评，为了满足各种材料的需要,仪器备有两块读数板，仪器的孔隙度可以从0. 25扩展到0.95以适用不同孔隙度材料的测量上。

主要技术参数

测量范围：第一档：0.2-20微米，第二档：20-50微米

孔隙度范围：0.25-0.40，0.4-0.8，0.8-0.95

环境温度：25土 10℃

重复性： 3%

电源:：110v/ 60HZ、220v/50HZ任选一种

功率：30W

重量：18kg

外形尺寸：735X415X245mm3