WLP-202型平均粒度仪 返回列表页

WLP-202型平均粒度测定仪(即费氏粒度仪)是一种利用空气透过法来测定各种粉末材料平均粒度的仪器，由于不受材料结团对测量的影响，测试的粒度重复性非常的好，精度高，由于仪器结构简单，操作方便，造价低，性能稳定,自1978 年投产以来，广泛应用于硬质合金，磁性材料，化工材料，医药，陶瓷等工业上。四十年来深受国内外用户好评。

主要技术参数

·测量范围：第一档：0.2-20 微米；第二档：20-50 微米

·孔隙度范围：0.4-0.8

·环境温度：25±10℃

·重复性：3%

·电源：110V/60HZ, 220V/50HZ, 任选一种

·功率：30W

·重量：18kg

·外形尺寸：735×415×245mm^3