日本理学下照式X射线荧光光谱仪 返回列表页

日本理学下照式X射线荧光光谱仪技术参数：
分析对象:4Be-92U
分光系统:波长色散式
X射线发生部
X射线管:端窗式Rh靶 4kW或3kW
高压发生器:高频变频器方式
额定电压,电流:4kW,60kV-150mA
稳定度: 正负0.005%(对于正负10%输入变动)
冷却水:水冷冷却水(内置)
分光部
样品交换机:从12,24,36,48样品4种中选择一种
样品尺寸:51mmx30mm(H)
分析样品面:zui大35mm
样品旋转:30rpm
1次X射线滤波片:4种(Al,Ti,Cu,Zr)
视野限制光阑:6种自动交换机构(35,30,20,10,1,0.5)
发散狭缝:3种自动交换机构(标准分辨率,高分辨率,超轻元素用(选件)
接受狭缝:SC用,F-PC用
测角仪:独立驱动
测角范围:SC5-118度 F-PC:13-148度
zui大扫描速度:1400度/min
连续扫描:0.1-240度/min
晶体交换:10晶体交换
分光晶体:标准:liF(200),Ge,PET,RX25 选件:LiF(220),RX4,RX9,RX40,RX45,RX61,RX75,RX80,RX61F,TAP
真空:双真空室(双真空泵),粉末样品附件(选件)
氦气置换机构:带隔板
恒温化机构:36.5度
记数.控制部:重元素用:SC,记数线性:1000kcps,轻元素用,芯线加热自动清洗
衰减器:IN-OUT自动切换
硬件:计算机:windouws PC
软件:定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景)
定量分析:检量线法JIS法,各种基体校正,无标样分析法)EZ扫描,应用模板,
样品径自动选择,谱峰分离,定精度测试,传送功能,多功能标准样品
其它为选件
维护功能:自动PH调整(PAS),全自动芯线清洗,自动老化,自动诊断,远程诊断

日本理学下照式X射线荧光光谱仪主要特点：
硬件:
采用新光学系统
1新型分光晶体,大幅度提高轻元素的灵敏度.
超轻元素对应的X射线光管(4kW,30薄窗)
48样品交换器
1次滤波片
双真空,双泵
粉末附件,防止污染真空泵
定点分析:zui小直径500,MAPPING分辨率100
节省空间,节能
软件
新的SQX软件
委托分析EZ扫描
定角度测试模式
应用摸板
散射线FP法
流程条
其他软件
应用软件包