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G全自动高频介电常数介质损耗测试仪

参   考   价: 200000

订  货  量: ≥1 台

具体成交价以合同协议为准

产品型号GDAT-G

品       牌

厂商性质生产商

所  在  地北京市

更新时间:2022-12-13 09:06:22浏览次数:230次

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G全自动高频介电常数介质损耗测试仪基于射频I-V测量法的LCR表,全面对标业界同类产品

 G全自动高频介电常数介质损耗测试仪

G全自动高频介电常数介质损耗测试仪

一、主要特点

  • 测量频率高达3GHz

  • 阻抗测试范围140mQ~4.8kQ

  • 基本测量精度高达0.45%

  • 测量速度高达2.2ms/点


  • 全面兼容业界主流LCR表SCPI指令集,且内置业界主流夹具的修正参数


     

  1. 技术指标

    (一)基本测量特性

    测量参数:LS、Lp、Cs、Cp、Rs、Rp、X、G、B、D、Q;

                      Rdc;

     

    阻抗范围:140mΩ~4.8kΩ;

    主要功能:校准/补偿向导

    使用Rdc测量功能进行接触检测

    可测试多种参数LS、Lp、Cs、Cp、Rs、Rp、X、G、B、D、Q、Rdc

    统计分析功能(201个点×8个表)

    自定义的功能键/参数

    比较器∶13个分选仓

    数据存储∶内置SSD、USB端口

     

    (二)源特性

    频率

    范围1MHZ-350MHz(选件035)

                1MHZ-600MHZ(选件060)

                1MHZ-1.5GHZ(选件150)

                1MHZ-3GHZ(选件300)

    分辨率10kHz

    不确定度±10ppm(+23℃±5℃),±25ppm(+5℃~+50℃)

     

     

    (三)测量信号电平

    测试电缆长度=1m 

    功率范围(测试端口接500负载)-40dBm-+1dBm

    电流范围(测试端口短路)0.0894mArms~10mArms

    电压范围(测试端口开路)4.47mVrms~502mVrms

    不确定度(测试端口接500负载)23℃±5℃:±3dB(≤1GHz),±4dB(>1GHz)    

    0℃-+50℃:±5dB(≤1GHz),±6dB(>1GHz)

    功率分辨率0.1dB

     

    (四)输出阻抗

    输出阻抗:50Ω,标称值;

    测量时间Rdc0.02ms/点

    快速模式2.2ms/点

    通用模式3.2ms/点

    高精度模式5.7ms/点

     

     

     

    (五)测量不确定度

    基本测量不确定度±0.45%(条件∶测试电平+1dBm,23℃±5℃)

     

    (六)一般技术指标

    操作系统:Windows操作系统

    可靠性MTBF:不小于5000小时

    维修性MTBR:不大于90分钟

    示:彩色LCD10.4英寸,触摸屏

    口:USB/LAN/GPIB/机械手

    率:≤150W

     源:AC90-264V,47-63Hz

     寸:440mm×234mm×297.5mm(W×H×D)

     ≤14.5kg

  2. 高频介电常数750_副本_副本.jpg

 

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