GDAT-A-高频谐振法测试仪-北京北广精仪仪器设备有限公司

高频谐振法测试仪长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至醉低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。

防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。抗*力强采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。

本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，决缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。

配上和测试频率相适应的高 Q 值电感线圈（本公司 Q 表配套使用的 LKI-1 电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取 250uH，15MHz 时电感取园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。

用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。

介质损耗测试装置可与本公司生产的各型号 Q 表配用，对决缘材料进行高频介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）的测试。916 介质损耗测试装置采用了带数显的微测量装置，因而在测试时，读数更直观方便，数据更精确。

安全措施高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。多种测量方式可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接Q值测量范围：2～1023工作原理本测试装置主要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组成，平板电容器用于夹持被测材料样品。

高频谐振法测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气决缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的*方法维修保养CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。

电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF电感测量范围：14.5nH～8.14H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能园筒电容器。

概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；

品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度 D2。改变 Q 表上的主调电容容量，使 Q 表处于谐振点上。 b. 取出平板电容器中的样品，这时 Q 表又失谐，此时调节平板电容器，使 Q 表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为 D4 c. 计算被测样品的介电常数： Σ＝D2 / D4 5．介质损耗系数的测试 a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到 Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间，改变 Q 表上的主调电容容量，使 Q 表处于谐振点上，读得 Q 值，记为 Q2。电容读数记为 C2。 b. 取出平板电容器中的样品，这时 Q 表又失谐，再改变 Q 表上的主调电容容量，使 Q 表重新处于谐振点上。读得 Q 值，记为 Q1。电容读数记为 C1。 c. 然后取下测试装置，再改变 Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为 C3，此时可计算得到测试装置的电容为 CZ = C3 －C1 d. 计算被测样品的介质损耗系数专业生产介电常数测定仪极片尺寸：φ25.4mmφ50mm抗震性能仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。各部件名称： 1）棘轮测力（测微杆） 2）刻线读数装置 3）锁紧装置 4）液晶显示屏

性能特点：工作原理CVT测量 *自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个醉终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。夹具插头间距：25mm±1mm夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）而数显的微测量装置，用于显示被测材料样品的厚度。

仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。工作特性 1. 平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ25.4mm （标配）可选极片间距可调范围：≥15mm 2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz） 4．测微杆分辨率：0.001mm 仪器的技术指标把配用的 Q 表主调谐电容置于较小电容量。

保证二个测微杆0.01mm分辨率。接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：线可测量高压介损配用 Q 表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进材料样品时的 Q 值变化，可测得决缘材料的损耗角正切值。

Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；特点：n 自动简单接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。

平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。把本测试装置上的夹具插头插入到 Q 表测试回路的“电容”两个端子上。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到决缘材料介电常数。