tesa micro hite测高仪 返回列表页

tesa micro hite测高仪

可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行一维或二维的测量。
自动搜索孔或轴的顶点，在动态探测中记录大、小值以及大小值之间的差值计算。TESA IG-13 数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差，并以ISO1101标准输出数据。
在电子测高仪上20 年的制造经验造就了高品质的设计，代表了当今的技术水平的发展；
生产现场检测的理想工具，在工作区没有任何电缆；
快速简单可靠测量，尤其是工件孔类；
• 365、615 和920 mm三种量程供您选择；
•显示的分辨率为0.0005, 0.001, 0.01 和0.1mm或转换为相等的英制单位；
•通过计算机辅助精度(CAA)自动修正偏移误差可以极准确测量长度、直线度和垂直度；
•具有和钢一样的膨胀系数（11.5×10-6k-1）；
•控制面板˜ID˜ 和˜power panel˜ 通过交互式的数据处理和输出，可以引导操作者的操作；
•无须人工计算；
•可以通过编写程序循环测量99 个工件，每个测量循环包含相关尺寸极限值的64 个指标；
•内置打印机用于数据输出或利用外部打印机以A4 纸打印；
• RS 232 数据输出；
•每台测高仪带有SCS 校准证明；
•坚固镀镍基座包括三个支撑点和经过精研；
•气垫用来在平板上方便地移动测高仪；
•增量式玻璃光栅具有参考点，分度间隔20 µm。光电数值捕捉(TESA ) ；
•测量头安装在球形轴承上，通过花轮和曲柄的方法进行移动。驱动系统可以锁定和上紧。可附加微调装置(选项)。用恒定的测量力进行自动数值捕捉。图像或声音信号进行应答；

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