BA 100——x荧光膜厚仪

BA 100——x荧光膜厚仪主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。无数次的发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器，操作简单。不用调校。X-射线管的距离也可测量，操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。

BA 100——x荧光膜厚仪主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。无数次的发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器，操作简单。不用调校。X-射线管的距离也可测量，操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。
即使是微小的电子元器件或印刷线路板上的镀层系统也可以高精度地分析。

BA 100——x荧光膜厚仪产品应用：
（1）电子行业：有效控制生产过程，提高生产力，分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu，测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy。
（2）五金电镀行业：电镀表面处理的成本zui小化，产量zui大化，多样品和多点分析，单层或多层厚度测量，镀液成份分析。
（3）贵金属/金属合金：珠宝及其他合金的快速无损分析，黄金分析及其他元素测定，金属合金检测。
（4）*性检测：确保产品符合规格测定有害物质从ppm级到高百分比级。
（5）有毒元素定量分析：例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定，按照IEC62321进行RoHS筛选。对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测。
（6）新能源行业：确保产品有效*，光电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析，通过镀层厚度分析优化导电性。