雷达物位计

雷达物位计适用于各种过程条件复杂的容器、储罐、仓料等物位测量，适用于对液体、浆料、颗粒以及粉尘的物位进行接触式连续测量，特别是应用在有粉尘、以及有挥发性物质存在的复杂环境下，且不受被测介质物理特性变化的影响。

XY-LDW雷达物位计的详细资料：

雷达物位计适用于各种过程条件复杂的容器、储罐、仓料等物位测量，适用于对液体、浆料、颗粒以及粉尘的物位进行接触式连续测量，特别是应用在有粉尘、以及有挥发性物质存在的复杂环境下，且不受被测介质物理特性变化的影响。
产品测量原理：
天线发射极窄的微波脉冲，这个脉冲以光速在空间传播，碰到被测介质表面，其部分能量被反射回来，被同一天线接收。发射脉冲与接收脉冲的时间间隔与天线到被测介质表面的距离成正比。由于电磁波的传播速度*，发射脉冲与接受脉冲的时间间隔很小（纳秒量级）很难确认。UPR系列采用一种特殊的相关解调技术，可以准确识别发射脉冲与接收脉冲的时间间隔，从而进一步计算出天线到被测介质表面的距离。
产品特点：
由于采用了*的微处理器和*的EchoDiscovery回波处理技术，可以应用于各种复杂工况。
“虚假回波学习”功能使得仪表在多个虚假回波的工况下，可正确地确认真实回波，获得准确的测量结果。
多种过程连接方式及天线型式，使得UPR系列适于各种复杂工况。如：高温、高压及小介电常数介质的测量等。
采用脉冲工作方式，发射功率极低，可安装于各种金属、非金属容器内，对人体及环境均无伤害。

 

公司：
www.cfbywjxxw.com
www.china-211600.com
www.xy-211600.com
www.china-yeweiji.com
http://www.llj211600.com/ProductsDetails_526.html
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