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产品展示
XRF-2000HXRF膜厚测试仪
- 公司名称：
- 更新时间：
- 所 在 地：
- 生产地址：
- 浏览次数：
- 上海益朗仪器有限公司
- 2016-03-17 10:27:08
- 上海市
- 韩国
- 1212
【简单介绍】
【详细说明】
Micro Pioneer XRF-2000H X射线荧光分析仪 XRF膜厚测试仪
XRF-2000H 型号 测量大工件适用，较XRF-2000L机箱尺寸变大
韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X-射线金属镀层测厚仪器
型号：type H
主机箱尺寸：610W x 670D x 600H
可测量样品大小： 550W x 550D x 100H
XYZ三轴可移动范围： 200W x 150D x 100H
zui大负重： 5kg
韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X-射线金属镀层测厚仪器
能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92 。
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
