EPMA-1720 SeriesEPMA-1720 Series 电子探针

可在微区领域进行高灵敏度、高精度分析。控制系统全部数字化。观察、分析只需使用鼠标、键盘、Windows操作系统，使用方便，保证安全。EPMA-1720H型配备高性能CeB6灯丝，实现了在亚微米领域的分析实用化。

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可在微区领域进行高灵敏度、高精度分析。控制系统全部数字化。观察、分析只需使用鼠标、键盘、Windows操作系统，使用方便，保证安全。EPMA-1720H型配备高性能CeB6灯丝，实现了在亚微米领域的分析实用化。

分析元素：4Be~92U

X射线分光器：  高灵敏度型

zui大样品尺寸：100*100*50（t）mm

X射线取出角：52.5°

二次电子分辨率：6nm（EPMA-1720H为5nm）

从软件到硬件凝结了技术，铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度•高精度•高分辨率的基础上，又新增了简单•易懂的操作性能，将电子探针功能发挥至*。既可满足初学者简易操作的需求，又能适合专家级的科研分析。

 

高灵敏度 • 高精度 • 高分辨率 「简单•易懂的操作」 从软件到硬件凝结了技术，铸就了新一代EPMA。岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度•高精度•高分辨率的基础上，又新增了简单•易懂的操作性能，将电子探针功能发挥至*。既可满足初学者简易操作的需求，又能适合专家级的科研分析。 *设计的X射线分光器可以实现高灵敏度•高精度分析 X射线取出角决定分析性能，52.5°高取出角更胜*    图为小孔穴中异物的分析实例。左下图为铁（Fe）、右下图为钛（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，对表面凹凸明显的样品也能进行高精度分析。       从SEM观察到开始分析，简便易行，大幅度提高工作效率。 同一显示器上同时显示高灵敏度的光学图像和SEM图像 在同一个显示器上观察光学图像和SEM图像。 SEM图像和光学图像在同一显示器上，减少视线的移动。 通过高灵敏度的CCD可以观察很暗的样品。     只需单击一下即可开始SEM图像观察。 只需点击【SEM AUTO】图标，就可以根据事先设定的条件进行SEM图像的观察。   束流变换更加简单• 快速• 高精度，且保持聚焦。 只需选定束流目标值即可快速、高精度地自动设定束流。 通过联动控制，束流大小改变后也能保持图像聚焦状态。