Panametrics 35超声波测厚仪

Panametrics 35超声波测厚仪

Panametrics 35超声波测厚仪在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型超声波测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

应用

• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

利用减缩率，可测量金属材料因弯曲而变薄的临界厚度值。

减缩率测量

美国泛美超声波测厚仪所有仪器型号的标准配置都具有差分模式和减缩率模式。差分模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比。典型的应用是对为制造车身面板而弯曲成形的钢板进行测量。

可直接显示声速数值的声速测量模式

材料声速测量
所有Panametrics 35型仪器均具有测量材料声速的性能。在材料声速与其它特性可能有关系的应用中，这个标准功能非常有用。典型应用包括监测金属铸件的球化程度，以及监测复合材料/玻璃纤维材料的密度变化。Olympus提供一个数字卡尺，用于自动传输测量厚度值。

自动调用功能可简化测量操作
自动调用功能可使厚度测量简化。在选择了任何一种所存的探头时，35型仪器都可调用相关内置探头的所有参数。
存储的标准设置标准设置包括大多数常用的探头。
存储的自定义设置在标准设置不能满足特殊的应用需求时，这些测厚仪可以创建、存储和调用多达20个自定义设置（35型和35HP型可调用10个自定义设置）

配合M208探头应用

在这种基本应用中不可使用测微计。然而，可以使用配有M208探头的35型仪器，在不损坏玻璃的情况下，进行校准精度达0.001毫米（0.0001英寸）的厚度测量。

差分模式：显示实际测量值和参考值之间的厚度差。
缩减率模式：显示厚度数值及实测厚度与参考厚度的百分比差值。
自动调用功能：自动为各种默认的和自定义的探头设置调节内部参数。

标准附件
手腕带、3节AA电池、试块、探头线缆、耦合剂、便携箱、指导手册、两年有限保修。