SunScan专业版冠层分析仪采用上*采用的原理（比尔定律以及冠层孔隙率与冠层结构相关的原理），通过鱼眼镜头成像和CCD图像传感器测量冠层数据和获取植物冠层图像...

SunScan植物冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数...

HemiView植物图像分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截...

DELTA-T植物冠层分析仪采用上*采用的原理（比尔定律以及冠层孔隙率与冠层结构相关的原理），通过鱼眼镜头成像和CCD图像传感器测量冠层数据和获取植物冠层图像，...

HemiView叶面图像分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截...

SunScan 植物冠层分析仪是英国 Delta-T公司旗舰产品，设备通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（...