一、JIMA RT RC-05B 分辨率测试卡详细介绍:
JIMA RT RC-05B是一款采用新半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率,确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。
JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 µ m至50 µ m)的分辨率。这对应于6微米和100微米(6 µ m和100 µ m)之间的焦斑尺寸。
二、JIMA RT RC-05B 分辨率测试卡应用:
· 修复 X 射线系统操纵器上的分辨率测试。
· 选择探测器、样品和试管的距离,以实现高几何放大倍率。
· 选择所需的 X 射线参数。
· 将分辨率测试放置在管的前面,使线条图案可见。
· 使用操纵器移动测试图,以便看到下一个较小的线对束。
· 只要线条清晰可见,就继续。焦点大小近似计算为小分辨率乘以 2。
注意:尽量减少辐射的持续时间。在 手术过程中关闭 X 射线。目标前面的热量可能会损坏测试图。
三、JIMA RT RC-05B 分辨率测试卡技术参数:
狭缝尺寸:3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米
测试框架尺寸:40 x 30 x 3 mm (WxHxD)
芯片尺寸:8 x 8 x 0.2 mm (WxHxD)
吸收材料厚度: gt;1.0 µm 金 Au Slit的数量为3行和2个空格
宽度3至10 μm:T形布局
宽度15至50 μm:I形布局L/S宽度
L/S宽度:3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm