讯号检查机-点屏测试-KX-108M采用独立通道设计方案，灵活的通道配置和组合，高稳定性,输出通道采用集成芯片方案，具有高规格和高可靠性

讯号检查机-点屏测试-KX-328M本装置是专门设计用于中小液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励，...

环境试验-步入式恒温恒湿试验箱主要用于航天产品，信息电子仪器仪表，材料，电工，电子产品，各种电子元器件在高低温和湿热环境下进行其各性能项指标实验

环境试验-快速温变试验箱适用于半导体、仪器、仪表、电工、电子产品，为电子零组件，成品、半成品、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的...

环境试验-两箱式冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业测试设备， 用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在...

环境测试-三箱式冷热冲击试验箱适用于半导体、仪器、仪表、电工、电子产品，为电子零组件，成品、半成品、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条...

C/Dphy讯号检查机 NB屏高分辨率是专门设计用于中小液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励：满足...

定制化Aging板卡-BIST-FS特点：l 支持同步驱动二片面板l 支援BIST及Aging Mode机种l 每组输出可提供CLK,可由user自由编辑l 提...

定制化Aging板卡kx-180Al 支持8路讯号同步输出，每CH支持8路电源输出支持6路LED输出160mA/CH，支持每路独立开关功能， 具有防静电保护功能...

Aging老化PCB板卡KX-937A支持驱动一片120Hz面板或二片60Hz面板，支持支持6/8/10 Bit， 可编程Power On Sequence，支...

Aging老化板卡支持LVDS讯号格式，支持24机种存储功能，方便切换机种，支持驱动上位机下载参数(Timing参数/Power及Pattern)

讯号检查机-点屏测试-JQ-170E 采用便携式设计(160mm X 110mm X 30mm),支持分辨率 1920X1200 (Max),具有静电防护，讯号...

讯号检查机-点屏测试JQ-160E 便携式设计(160mm X 110mm X 30mm),支持分辨率至1920X1200 (Max),具有静电防护，讯号隔离等...

讯号检查机-点屏测试-KX-145M支持LVDS讯号格式,支持120HZ高刷显示,支持软体参数在线实时监测,支持15机种存储功能，方便切换机种

讯号检查机-点屏测试-KX-137E支持LVDS讯号格式，支持24机种存储功能，方便切换机种，支持驱动PC上位机下载参数(Timing参数/Power及Patt...

讯号检查机-点屏测试-KX-248M本装置是专门设计用于液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励,满足...

讯号检查机-点屏测试-KX-226M本装置是专门设计用于液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励, 满...

讯号检查机-点屏测试KX-120M 本装置是专门设计用于穿戴类液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励...

老化测试系统-AOI光学测试系统应用于LCD行业，覆盖全尺寸范围，主要应用于产品画面检测，基于光学、电测、软体、算法、机构五大模块，利用高分辨率图像采集系统和光...

老化测试设备系列- OLED老化测试系统提供OLED CELL点屏时所需信号，数据和电源信号，适用于产线，品质，研发的ACA，MCA，寿命机等各种Offline...