1MHZ介质损耗因数测试仪

1MHZ介质损耗因数测试仪测试方法分类标准‌‌低频与工频测试‌优先采用GB/T 1409-2006的工频法，通过西林电桥或自动平衡电桥测量，升压速率需控制为500-2000V/s。‌高频与微波测试‌谐振腔法（如IEC 60250）适用于1MHz-300MHz频段，支持微带环谐振器和三维介电谱分析。传输线法（如ASTM D3380）用于500kHz-30MHz宽频段测量，误差≤1%。‌条件测试‌高温/真空环境需遵循GB/T 31838.8-2024，结合温控模块（-70℃至700℃）和压力调节装置（3×10⁻²MPa）

1MHZ介质损耗因数测试仪专用标准‌‌电力与电子行业‌‌GB/T 1693-2007‌：硫化橡胶类材料（如电缆绝缘层）的介电损耗角正切值（tanδ）测试。‌DIN IEC 247-1996‌：液体绝缘材料的相对介电常数与直流电阻率同步检测。‌航空航天与通信‌：片型/管型电绝缘材料的介电特性测试，适用于航空复合材料的高温稳定性评估。‌IEEE标准‌：基于网络分析仪测量微波材料的反射/透射参数，确保高频信号完整性。介质损耗和介电常数国内核心标准‌‌GB/T 1409-2006‌适用于电气绝缘材料在工频、音频、高频（50Hz-1MHz）下的电容率（介电常数）和介质损耗因数测试，规定试样预处理条件（温度23℃±2℃、湿度50%±5%）及电极校准流程。

介质损耗和介电常数‌GB/T 5654-2007‌针对液体绝缘材料（如变压器油、有机溶剂）的相对电容率、介质损耗因数及直流电阻率测试，要求严格控制取样条件（消除气泡、杂质）和温度误差（±5℃）。

介质损耗和介电常数‌GB/T 31838.8-2024‌规范固体绝缘材料在1MHz-300MHz高频范围的相对介电常数和介质损耗因数测试，适用于环境（如真空、辐射）下的介电稳定性验证

测试原理

采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。

仪器的技术指标

1．Q值测量范围：2～1023

2．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

3．电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

4．电容直接测量范围：1～460pF                                                

5．主电容调节范围： 30～500pF                                            

6．电容准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%                                                                   7．信号源频率覆盖范围10KHz-70MHz （双频对向搜索  确保频率不被外界干扰）另有GDAT-C 频率范围10KHz-70MHz及200KHZ-160M

型号频率指示误差：1*10-6 ±1                                      

Q值合格指示预置功能范围：5～1000

Q值自动锁定，无需人工搜索

Q表正常工作条件

a. 环境温度：0℃～+40℃

b．相对湿度：<80％；

c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

其他

a．消耗功率：约25W；   

b．净重：约7kg；   

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

11．产品配置：

a.测试主机一台；

b.电感一套；

c.夹具一 套

性能特点：

1.    平板电容器

极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm

极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm

2.    园筒电容器

电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF

长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm

3.  夹具插头间距：25mm±1mm

4.  夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）

5、数显电极

如何准备测试前的环境？

以下是电容器纸介电常数测试前的环境准备要点，综合测试规范与安全要求整理：

一、设备检查与校准

‌仪器状态验证‌
确认测试仪已通过校准并在有效期内，电极平整度偏差需＜10μm，测试夹具无氧化或机械损伤。

‌连接规范‌
若使用外接标准电容器，需与测试夹具保持间距＞50cm，避免电磁干扰；内部标准电容模式仅需连接被试品即可。

‌预热要求‌
开机后预热15分钟，确保仪器进入稳定工作状态。

二、环境参数控制

三、样品预处理

‌规格要求‌
电容器纸需裁切为直径50.4-52mm的圆形试样，厚度建议≥0.5mm；过薄样本可通过多层叠加测试。

‌表面处理‌
使用无尘布清洁样本表面，确保无褶皱或杂质；必要时对电极接触面进行导电处理（如蒸镀金属层）。

‌状态稳定‌
样品应在测试环境下静置≥30分钟，消除温湿度梯度变化的影响。

注：对于高频测试（如1MHz以上），需额外检查电感线圈与频率适配性，避免谐振失准。

如何选择合适的介电常数测试标准

选择合适的介电常数测试标准需结合材料特性、应用场景及行业规范，以下为关键考量点：

一、‌材料类型与测试方法匹配‌

‌固体材料‌

需关注形状与尺寸：规则固体（如陶瓷片）适用平行板电极法（ASTM D150）8，不规则固体可选用谐振腔法或传输线法。

高温/低温材料需满足标准中温度控制要求（如GB/T 1409-2006规定23℃±2℃的温控范围）。

‌液体材料‌

需采用专用测试池（如圆筒电极）并遵循GB/T 5654-2007的取样与预处理规范（消除气泡、杂质等）。

高精度测试推荐IEC 60250标准中的工频测量方法。

‌气体与粉末‌

气体介电常数测量可参考LC谐振电路法，需通过压强调节和频率回归分析计算电容变化率。

粉末材料需压实成标准试样，避免孔隙率影响结果准确性。

二、‌应用场景与频率范围‌

‌低频与工频场景（50Hz~1MHz）‌

电力设备绝缘材料（如变压器油、电缆）需符合GB/T 1409-2006的工频测试规范。

液体材料适用GB/T 5654-2007的直流电阻率同步检测要求。

‌高频与微波场景（>1MHz）‌

高频电路基板（如Rogers材料）需采用谐振法或传输线法，参考IEC 60250的高频测试标准。

微波材料（如天线介质）推荐网络分析仪测量反射/透射参数，满足IEEE标准中的信号完整性要求。

三、‌行业规范与合规性‌

‌国内标准‌

GDAT系列‌：适用于电力、电子行业，如GB/T 1409-2006规定试样预处理条件及电极系统校准流程.

‌行业特殊标准‌：航空航天材料需满足高温真空环境下的介电稳定性测试（如航天器隔热层测试规范）。

‌国际标准‌

‌IEC 60250‌：通用的电气绝缘材料测试标准，覆盖电极设计、温湿度控制及误差补偿方法。

‌ASTM D150‌：针对平行板法制定，明确电极边缘电容消除与保护电极的应用规范。

四、‌测试精度与设备要求‌

‌精度等级‌

科研场景需误差≤1%的高精度仪器（如数字合成信号源设备）。

工业质检可接受±1%误差，但需满足重复性误差≤2%。

‌设备功能适配‌

高频测试需支持宽频段（如100kHz~160MHz）及自动校准功能。

多参数测试设备应兼容电容、电感、Q值等同步测量，满足复杂材料分析需求。

五、‌操作流程与数据验证‌

‌标准化操作‌

严格遵循标准中的升压速率（如短时试验选择500V/s或2000V/s）及击穿时间窗口（10-20秒）。

阶梯升压试验需预设初始电压（40%预计击穿值）并记录级间切换时间误差（<5秒）。

‌数据验证‌

通过交叉验证（如电容法与谐振法对比）确保结果一致性。

异常数据需复测并分析环境干扰因素（如湿度波动或残余电感）。

总结建议

介电常数介质损耗测试仪的应用领域可分为以下方向：

一、介电常数介质损耗测试仪材料研发与性能优化

‌新型材料开发‌：评估陶瓷、聚合物、纳米复合材料等的极化机制与能量损耗特性，指导配方优化（如高聚物通过调整ε值提升耐高温性能）。

‌老化与失效分析‌：监测材料在温度、湿度变化下的介电性能演变（如高温下介电常数的非线性变化）。

‌食品与农业科学‌：通过介电常数间接检测果蔬含水率、发酵程度，或优化食品干燥、杀菌工艺参数。

二、介电常数介质损耗测试仪电子与电力工业

‌电容器与绝缘材料‌：测试聚丙烯薄膜（ε≈2.3）、电解液等介质的介电常数与损耗因数（tanδ<0.005），确保电容器储能效率和稳定性。

‌高压设备安全评估‌：检测变压器油、绝缘纸的介质损耗角正切值（tanδ），预防绝缘击穿风险。

‌电子元器件制造‌：评估液晶材料、半导体封装材料的介电性能，优化显示响应速度或器件可靠性。

三、介电常数介质损耗测试仪通信与航空航天

‌射频与微波材料‌：优化微波基板（如Rogers材料ε≈3.3-6.6）、天线材料的介电常数，提升高频信号传输效率。

环境适应性‌：测试航天器隔热材料、航空复合材料在真空或高辐射环境下的介电稳定性。

四、介电常数介质损耗测试仪工业质检与生产控制

‌化工与石油行业‌：检测有机溶剂、聚合物溶液的介电常数，优化涂料干燥性能或油品绝缘等级。

‌汽车与能源设备‌：评估电池隔膜、燃料电池电解质的介电特性，确保充放电效率与安全性。

‌建筑与土木工程‌：通过介电常数反演路基压实度或监测混凝土结构中的水分分布。

五、介电常数介质损耗测试仪跨领域创新应用

‌环境监测‌：利用土壤介电特性分析水土污染程度或预测地质灾害（如岩石介电异常与地震关联性）。

‌医疗与生物工程‌：研究生物组织或医用材料的介电响应特性，辅助开发新型传感器或诊断设备。

六、介电常数介质损耗测试仪技术扩展方向

‌高频电路设计‌：结合阻抗测试（EIS）分析PCB基板材料的介电常数与信号完整性关系。

‌储能材料开发‌：通过介电常数优化聚合物基复合材料，提升超级电容器能量密度。

七、介电常数介质损耗测试仪材料性能评估

‌介电参数测量‌：用于精确测定材料的介电常数（ε）和介质损耗角正切值（tanδ），为评估绝缘材料、陶瓷、复合材料等电学特性提供核心数据。

‌性能优化支持‌：通过分析介电参数与材料微观结构的关系，指导改进材料配方及生产工艺，提升耐压、绝缘或高频适应性等性能。

八、介电常数介质损耗测试仪行业应用场景

‌电力与电子工业‌：检测电力设备绝缘材料（如电缆、变压器套管）的介电性能，保障电网安全运行；评估电子元器件基板材料的信号传输稳定性。

‌科研与教育‌：作为高校、科研机构实验室的基础设备，用于新型功能材料（如微波介质陶瓷、高分子复合材料）的研发及教学实验。

‌工业质检‌：在陶瓷电容器制造、高频通信材料生产等领域，用于产品出厂前的介电性能合规性检测。

九、介电常数介质损耗测试仪扩展功能应用

‌多参数测量‌：部分型号可同步测量电容、电感、Q值等参数，支持对电路元件特性及高频传输线阻抗的全面分析。

‌宽频段适用‌：通过谐振法（MHz级）或传输线法（GHz级）等不同原理，满足从低频绝缘材料到高频微波基板的多场景测试需求。

技术特征示例典型设备如GDAT，BQS系列，支持17-240pF电容调节、1pF-25nF直接测量及1-1023的Q值范围，具备自动换档和数字频率锁定功能，确保在10kV高压下仍能保持±0.5%的测量精度

介电常数测试仪使用前准备事项

一、介电常数测试仪‌仪器检查与校准‌

‌设备状态确认‌

检查仪器外观（显示屏、按键、接口）是否完好，确保无物理损坏或连接线松动‌。

验证电源线和测试线连接正常，接地端子可靠接地（接地电阻≤4Ω）‌。

开机后观察自检流程是否正常，部分设备需预热30分钟以稳定性能‌。

‌校准操作‌

使用标准样品（如空气、聚四氟乙烯）进行开路/短路校准，消除系统误差‌。

高频测试需验证频率稳定性（如±0.01Hz偏差）‌。

二、介电常数测试仪‌环境与参数设置‌

‌环境条件‌

保持温度稳定（0~40℃），湿度≤80%RH，避免因温湿度波动影响测试结果‌。

远离强电磁干扰源（如电机、变压器），实验室需屏蔽外界干扰‌。

‌参数配置‌

根据材料类型选择频率范围（如低频1MHz或高频160MHz）‌。

设置升压速率、漏电流阈值等安全参数‌。

三、介电常数测试仪‌样品制备与安装‌

‌固体样品处理‌

加工成平整薄片（厚度≤1mm），表面清洁无污染，两面镀银或导电层并焊接引线‌。

使用游标卡尺测量直径或边长，取多点数据计算平均值‌。

‌液体样品处理‌

注入专用测试池（如平行板或同轴圆筒），避免气泡干扰‌。

‌安装规范‌

固体样品夹于平行板电极间，与电极保持1cm以上距离，必要时用聚苯乙烯衬垫‌。

测试线连接高压端和接地端，确保接触良好且尽量缩短接线长度‌。

四、介电常数测试仪‌安全防护措施‌

‌操作规范‌

试区域设置警示标识，非操作人员禁止进入‌。

佩戴绝缘手套、护目镜等防护装备，避免直接触碰高压端‌。

‌高压防护‌

测试前对样品进行高压预试验，确认无放电或电离现象‌。

升压时缓慢操作，若发生击穿立即断电并排查故障‌。

总结

使用前需全面检查设备状态、校准仪器、规范样品制备，并严格遵循环境与安全要求。高频测试需侧重频率稳定性‌，液体样品需专用电极池‌，高压操作需全程防护‌

如何选择合适的介电常数测试仪

一、‌明确测试需求‌

‌测试对象与应用场景‌

‌材料类型‌：固体（如陶瓷、绝缘材料）、液体（如油类、溶液）或高温/低温材料，需选择适配的测试仪类型（如专用液体测试仪或高温兼容设备）‌。

‌应用场景‌：高频电路设计需高频率范围（如160MHz），而工频绝缘材料测试可选择低频设备（如40-70Hz）‌。

‌核心参数要求‌

‌介电常数（ε）范围‌：覆盖待测材料可能值（如0-200或更高）‌。

‌介质损耗（tanδ）精度‌：高精度需求场景（如科研）需误差≤1%的仪器‌。

二、‌关键性能指标‌

‌频率范围与精度‌

匹配‌：高频材料（如微波通信元件）需支持高频段（如500kHz~30MHz或更高），低频材料（如绝缘橡胶）可选低频设备。

‌频率稳定性‌：数字合成信号源可提升频率精度（如±0.01Hz）‌。

‌测量范围与分辨率‌

‌电容范围‌：覆盖待测样本（如3pF~30μF），并支持微小变化检测（分辨率达0.001pF）‌。

‌电感兼容性‌：若需测试电感特性，仪器需支持宽电感范围（如0.1μH~8H）‌。

‌稳定性和重复性‌

‌重复性误差‌：≤2%确保多次测量结果一致‌。

‌抗干扰能力‌：内置自动校准功能可消除残余电感或测试引线误差‌。

三、‌测试方法与技术适配‌

‌测试技术选择‌

‌高频谐振法/Q表法‌：适用于高频场景（如10kHz~160MHz），直接测量Q值、电容及介质损耗‌。

‌传输线法/谐振腔法‌：适合微波材料测试，通过反射/透射信号计算介电常数（精度高但设备昂贵）‌。

‌电极与样品适配‌

‌电极类型‌：固体样品需接触式电极（如平行板），液体需专用测试池（如同轴圆筒）‌。

‌样品制备‌：需支持薄片加工（厚度≤1mm）或真空环境测试（如3×10⁻²MPa）‌

四、‌功能与操作便捷性‌

‌自动化功能‌

‌一键清零/自动升压‌：简化操作流程，减少人为误差‌。

‌数据直读与存储‌：液晶屏实时显示参数（如Q值、频率），并支持生成测试报告‌。

‌环境适应性‌

‌温控能力‌：高温材料测试需仪器支持加热（如180℃）或冷却功能‌。

‌抗干扰设计‌：实验室需屏蔽电磁干扰，仪器需可靠接地‌。

五、‌合规性与售后服务‌

‌标准符合性‌

需满足国际/国家标准（如GB/T 1409-2006、IEC 60250）以确保测试结果性‌。

‌售后支持‌

选择提供校准服务、技术支持的品牌，降低设备维护成本‌。

总结

选择介电常数测试仪需综合‌测试需求‌（材料类型、频率范围）、‌性能指标‌（精度、稳定性）、‌技术适配‌（测试方法、电极类型）及‌功能扩展性‌（自动化、环境兼容）。高频场景优先选高频Q表或阻抗分析仪，液体测试需专用设备，科研场景需高精度（如0.001pF分辨率）和标准合规性‌.

介电常数与介质损耗的关系

一、基本定义

‌介电常数（ε）‌
表征材料在电场中存储电荷的能力，数值上等于以该材料为介质的电容器电容量与真空电容器的比值‌45。介电常数越大，材料的极化能力越强，存储电荷效率越高‌。

‌介质损耗（tanδ）‌
描述材料在交变电场中因电导损耗和极化滞后效应导致的能量损耗，通常用损耗角正切（tanδ）表示。其值越大，材料发热越显著‌。

二、直接关系

‌一般趋势‌
低介电常数的材料通常具有较小的介质损耗。因为极化程度较低的材料在电场中响应较弱，能量损耗较少‌。但这一关系并非，需结合频率、温度等因素综合判断‌。

‌损耗机制‌

‌电导损耗‌：由材料电导率引起，与介电常数无直接关联‌。

‌极化损耗‌：介电常数高的材料通常极化程度高，极化松弛可能加剧能量损耗‌

三、影响因素

‌电场频率‌

‌低频区‌：介电常数达到峰值，极化充分，但损耗较低（极化损耗小）‌。

‌高频区‌：介电常数下降，极化响应滞后导化损耗显著增加‌。

‌温度‌

温时分子运动受限，极化损耗和电导损耗均较小‌。

高温下材料电导率上升（电导损耗增加），且极化松弛效应增强（极化损耗加剧）‌.

四、工程应用中的影响

‌高频电路设计‌
高介电常数材料会增加信号传输延迟，同时高频下介质损耗可能引发信号衰减（如PCB板材需选择低Dk和低Df材料）‌。

‌绝缘材料选择‌
高压设备需兼顾介电常数和损耗：高介电常数可减小体积，但介质损耗过大会导致热击穿

总结

介电常数与介质损耗的关系受材料极化特性、频率和温度共同影响，需根据具体应用场景平衡两者的数值。低介电常数材料通常损耗较小，但高极化材料可能因松弛效应导致损耗增加‌

维修保养

本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：

1.    平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

2.    园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。

3.    保证二个测微杆0.01mm分辨率。

4.    用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。

附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表

BH916测试装置                                        GDAT高频Q表

平板电容极片 Φ50mm/Φ25.4mm                         可选频率范围10KHz-70MHz

间距可调范围≥15mm                                   频率指示误差3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm                             主电容调节范围30-500/18-220pF

测微杆分辨率0.001mm                                  主调电容误差<1%或1pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz)                    Q测试范围2～1023

电容器纸介电常数测试仪是用于测量电容器纸等材料介电常数（ε）及介质损耗角正切值（tanδ）的专业设备，其核心功能在于评估材料的绝缘性能和储能效率。以下是综合相关技术信息的总结：

一、基本原理与核心功能

‌高频谐振法‌
通过构建高频谐振回路，测量材料的电容率和介质损耗，结合单片计算机实现频率锁定、自动调谐及参数计算，提升测试精度和便捷性。

‌多参数测量‌
可同步测量电感、电容、介质损耗及介电常数，支持宽范围测试（如电容范围1pF~30μF，频率覆盖25kHz~50MHz）。

二、遵循标准与测试方法

‌国际/国家标准‌
符合《GB/T 1409-2006》推荐的工频、音频及高频下介电性能测试方法，适用于电容器纸等绝缘材料的标准化测量。

‌测试方法适配‌
支持平行板法（ASTM D150）、接触电极法及非接触电极法，通过保护电极设计减少边缘电容误差。

三、主要技术参数

四、应用场景与优势

‌材料研发与质检‌
用于电容器纸、电瓷、复合材料等介质损耗和介电常数的测定，优化材料极化特性及储能性能。

‌工业现场适用性‌
配备抗干扰技术及高压防护措施（如过零合闸、防雷击），支持发电厂、变电站等复杂环境下的高压设备测量。

‌自动化与安全性‌
集成自动换挡、谐振点搜索功能，减少人工干预；高压输出范围覆盖2kV~10kV，满足不同测试需求。

五、典型型号与操作特点

BQS系列‌：支持工频高压测量，内置标准电容器和升压电源，一体化设计便于携带，中文界面简化操作流程。

BQS-13型‌：适配电流互感器扩展量程，测试电容可达1000μF，分辨率达0.001pF。

六、供应商与采购信息

仪器可通过专业平台采购，主流型号价格需具体询价

如何操作电容器纸介电常数测试仪？

以下是电容器纸介电常数测试仪的标准操作流程，综合主流设备操作规范总结：

一、前期准备

‌仪器检查‌

验证仪器校准状态及有效期，确保电极、测试夹具无破损

连接标准电容器与测试夹具，保持两者间距＞50cm以降低电磁干扰

‌环境控制‌

实验室温度控制在(23±2)℃，湿度＜60% RH，避开强电磁场源

‌样品制备‌

将电容器纸裁切为直径50.4-52mm圆形样本，确保表面无褶皱或杂质

厚度建议≥0.5mm（过薄样本可采用叠加测试法）

二、参数设置与校准

‌硬件配置‌

将测试夹具插头接入仪器“电容”端子，根据测试频率选择匹配电感线圈

高频测试（如1MHz）配100μH线圈，超高频（15MHz）配1.5μH线圈

‌系统校准‌

空载状态下用测微杆压紧平板电极，执行清零操作

使用聚四氟乙烯标准校准片进行三点校准，误差控制在±5%以内

三、测量执行流程

‌样本安装‌

通过测微杆将样品夹入平板电极间，施加适度压力（约0.5-1N）保证贴合

读取显示屏显示样本实际厚度

‌谐振点调节‌

旋转主调电容旋钮寻找Q值点（谐振状态）

灵敏度调节顺序：从小值逐步增至分辨率档位

‌数据采集‌

取出样本后重新调节测微杆至谐振点，记录此时厚度

通过公式ε=(D4-D2)/D2×C0自动计算介电常数（C0为电极系统常数）

四、安全与精度控制

‌高压防护‌

试验电压应低于样本击穿电压的50%，遵循2U+1绝缘标准（U为额定电压）

测试结束后先归零灵敏度开关，再切断电源

‌异常处理‌

出现Q值漂移时检查电极接触是否松动

介质损耗值异常升高需考虑样本受潮或污染

五、数据记录规范

六、维护要求

每次使用后清洁电极表面残留物，避免氧化

每月执行电极平整度校验，偏差＞10μm需返厂研磨

注：具体操作细节需结合设备型号说明书执行。