Rigaku 的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理非常大或重的样品而设计。该系统可接受直径为 400 毫米、厚度为 50 毫米和质量为 30 千克的样品，非常适合分析溅射靶材、磁盘，或用于多层薄膜计量或大型样品的元素分析。
优点
带有定制样品适配器系统的 XRF,适应特定样品分析需求的多功能性，可使用可选适配器插件适应各种样品尺寸和形状。凭借可变测量点（直径 30 毫米至 0.5 毫米，具有 5 步自动选择）和具有多点测量的映射功能以检查样品均匀性。
具有可用相机和特殊照明的 XRF,可选的实时摄像头允许在软件中查看分析区域。
仍保留了传统仪器的所有分析能力。
安全性
采用上照射设计,样品室可简单移出，再不用担心污染光路，清理麻烦和增加清理时间等问题。
应用领域
■ 技术参数
大样本分析： 400 毫米（直径）， 50 毫米（厚度），高达 30 千克（质量）
样品适配器系统，适用于各种样本量
测量点：30 毫米至 0.5 毫米直径，5步自动选择
映射能力，允许多点测量
样品视图相机（可选）
分析范围：Be - U
元素范围：ppm 至 %
厚度范围：sub Å 至 mm
衍射干扰抑制（可选）：单晶衬底的准确结果
符合行业标准：SEMI、CE标志
占地面积小，以前型号的 50% 占地面积
