仪器简介：
日本AET微波(高频)介电常数测试仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。
AET公司开发了诱电体共振腔，用于高介电常数，超低介电损耗的样品。
技术参数：
可测试频率范围： 20G以下
介电常数Epsilon：5-200， 准确度： ±1%，
介电损耗tangent delta：0.00001-0.001， 准确度：±5%
主要特点：
高介电，低介电损耗材料量测。
应用领域：
高速数字/微波电路用基底材料 ；滤波器和介电天线用低损耗电介质 ；化学制品；
薄膜与新材料；半导体材料；电子材料（包括CCL和PCB）
陶瓷材料；纳米材料；光电材料等
相关资料
诱电体共振腔
