沃特世Xevo G2-XS Tof稳定性提升灵活应对多变需求简单易用

保证出众性能的同时提升稳定性

样品和研究的复杂程度日趋增加，在保持分析性能的同时获得高质量的目标组分数据面临着更大的挑战。

Xevo® G2-XS Tof结合StepWave™离子光学组件和XS碰撞室技术，保持着一如既往的良好选择性，同时带来灵敏度的显著提升。长时分析期间，关键的硬件组件可持久保持洁净，为您提供更重现性的结果，保证实验室生产效率。

分析大量样品时，可获取比以往更多、更有意义的组分信息，帮助您全面深入了解样品，制定更可靠的决策。

十分全面的高质量定性信息

本系统可在短时间内收集充分了解样品所需的详尽、准确的各目标组分定性及定量信息，完整展现出现代分离技术的优势。

MSE方法虽然简单，但功能强大，无论可检测组分在色谱上是否可分离，此方法都能够确定出精确的母离子质量数和碎片离子数据，为您带来更优质的定性信息，这些数据还将提供准确的定量信息。由于该方法无靶向性，因此随着科学问题的发展，您可在以后重新查询使用这些数据。

灵活应对多变需求

实验室对效率和产量的日益重视对分析系统提出了更高的要求，不仅需要系统具备良好的耐用性和可靠性，也应当能够灵活应对现今的各种任务，才能在未来实现创新发展。 

沃特世通用型离子源结构可以将单一分析平台用于多种不同应用和化合物类型，并可以根据需求和优先情况的变化添加新的功能。所有的离子源选项经过精心设计，可以实现快速互换，轻松完成使用前准备，为您带来全面的系统功能，大幅减少停机时间。

简单易用，专业和非专业人士均可轻松上手

通常，要使如此强大的分析系统实现并保持优异性能，往往需要具备一定的专业知识和经验。

Xevo G2-XS Tof采用了的IntelliStart™技术，这一直观的用户界面可实现日常任务的自动化，保证了出色的可重现数据，确保所有人都可以使用系统的所有功能。IntelliStart可自动执行以下基本功能：

• MS分辨率和校正检查
• 轻松设置各种实验
• 定期LC/MS系统检查
• 持续进行系统监测

可升级至完整的QTof全功能版本

为应对日益增长的需求与挑战，Xevo G2-XS Tof可直接升级至QTof全功能版本，而对实验室的繁忙工作并不会产生多大影响。该升级操作可进一步增强分析系统的分析性能与多功能性：

• 在现实的日常实验室条件下，Tof-MRM分析结果大大优于以往使用高分辨率MS所获得的检测限和定量限，提供业内前列的定量性能。
• 自动化靶向性数据采集技术FastDDA具备快速、智能的精确质量数MS/MS功能，可用于确认已知化合物或鉴定未知化合物，适用于只有真正的MS/MS数据才符合要求的情况。