日立测厚仪 产品描述
| 品牌 | 一六仪器 | 型号 | XTU-50A |
| 类别 | 下照式 | 仪器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
| 仪器重量 | 45KG | XY轴工作台移动范围 | 50mm*50mm |
| XY轴工作台承重 | 5KG | 测量元素范围 | CI（17）-U（92） |
| 不同层相同元素检查能力 | 选配 | 涂镀层分析范围 | Li（3）-U（92） |
| 分析软件 | 同时分析23个镀层24种元素 | X射线装置 | 微聚焦射线管 |
| 准直器 | φ0.5mm、φ0.2mm、两准直器任选一种 | 测量距离 | 具有距离补偿功能，可改变测量距离测量凹凸异行物品，变焦距离可达0-30mm |
| 对焦方式 | 高敏感镜头，手动对焦 | 样品台移动 | 高精密手动XY滑轨 |
| 其他附件 | 电脑一套，喷墨打印机，附件箱，12元素电镀液测量杯（选配）片，标准片（选配） |
丞普诺仪器（苏州）有限公司主营产品有：视频接触角测定仪、张力仪、水滴角检测仪、表、界面仪器的设计与开发、模具保护监视器、视觉类等检测仪器的定制与开发。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
X射线膜厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐。鼠标可控制平台，鼠标点击的位置就是被测点。高分辨率探头使分析结果更加。良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。
镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
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