高精度X-RAY膜厚仪

韩国XRF-2000 高精度X-RAY膜厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍合金等...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单

XRF2000镀层测厚仪高精度X-RAY膜厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
 

可测量较大的产品。用于线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。可测量各类金属层、合金层厚度等。

高精度X-RAY膜厚仪可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
5个准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能
 

1、测量电镀层厚度范围为0.03微米～35微米。

2、可测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍及锌镍合金等。

3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底村。

三、设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线非接触非破坏快速测量电镀层厚度

拥有多种滤波器选择

各种样品单层至多层（5层），合金膜层可测量

定点自动定位分析

光标对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量数据

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定

韩国XRF-2000 高精度X-RAY膜厚仪

1、主机箱：

输入电压：AC220V±10%，50/60Hz

沟通方法：RS-232C

温度控制：前置放大及机箱温度控制

对焦：激光自动对焦

样品对位：激光对位

安全装置：若测量中箱门打开，X射线会在0.5秒内自动关闭

表面泄露：少于1SV

2、多通道分析：

通道数量：1024ch

温度控制：自动前置放大温度控制

脉冲处理：微电脑高速控制处理器

3、X射线源：

   X射线管：油冷、超微细对焦

   高压：0-50Kv（程控）

   管电流：0-1mA（程控）

目标靶：W靶（可选Mo或Be）

4、准直器：

  固定种类大小：0.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五个可选

韩国XRF-2000X光镀层测厚仪

韩国XRF-2000X光镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

 可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等。

韩国XRF-2000高精度X-RAY膜厚仪功能

全自动台

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间：10－30秒

高精度X-RAY膜厚仪