四探针电阻率测试仪有哪些性能特点？

 性能特点

超大液晶人性化操作界面

多种测量参数可选

测量数据自动保持功能

超快测量并显示读数

量程有自动和手动双模式

档号显示及档计数功能

兼容多种材料测量。

专业的通讯接口可以与 PC 进行数据通讯及对仪器的远程控制显示器 （电脑和PC软件是选配）高清 LCD 液晶显示：显示位数 6 位

测量范围和精度

电阻率 1µΩ･cm －2MΩ･cm

方块电阻  10µΩ/□ －2MΩ/□

模拟电阻  1µΩ－2MΩ

精度 电阻率、方阻：4%；模拟电阻：0.1%；

测量功能

量程方式 自动，保持

测量速度 快速: 10 次/秒，中速: 5 次/秒，慢速: 2 次/秒

触发方式 内部，手动，外部

分选和接口

分选功能 内建比较器：合格、上超和下超

讯响 合格，不合格，关闭

接口配置 RS-232C 接口/HANDLER/USB Device（选件）

一般规格

操作环境 0°C －40°C ，≤90%RH

保证精度环境 23±5℃，≤80%RH

电源要求 198V －242V(AC），47.5Hz －63Hz

功耗 ≤30 VA

可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的

电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE 膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO 膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。

应用

 金属片、导电金属箔材料、金属箔上涂层

 单晶硅、多晶硅、硅片、硅晶棒、硅锭、硅块料

 石墨烯、锂电池电极、氢燃料电池双极板、太阳能电池片

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