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CM 950: 台式X射线荧光测厚仪

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更新时间：2009-04-27 12:46:46浏览次数：855次

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产品简介

详细介绍

CM 950: 台式X射线荧光测厚仪

CMI950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：

全程控样品台：XYZ三轴程序控制样品台，可接纳的样品zui大高度为150mm，XY轴程控移动范围为300mm x 300mm。此样品台可实现测定点自动编程控制。

Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品zui大高度为270mm。全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品zui大高度为356mm。

可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。

CMI900/950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900/950主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定zui多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。