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北京英格海德分析技术有限公司
The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.
MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。
·光栅控制,增强深度分析能力
·所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输
·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器
·质量数范围: 300amu,500amu,1000amu
·检测器: 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps
·质量过滤器: 3F四级杆
·杆直径: 9mm
·加热: 250℃
·离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝
MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)
AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)
AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)
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