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MarSurfXC20轮廓测量仪

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更新时间：2022-12-07 12:25:04浏览次数：65次

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产品简介

轮廓测量的国际基准MarSurf XC 20 被为轮廓评估的**产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过上等的技术发展为上等质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供**的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。可以显示用户提示交互控制元素支持评估和自动例行程序使用双探针测头测量上下轮廓；也可对两个轮廓进行相对评估剖面图像，可评估各剖面的不同参数可对孔或陡峭对象等障碍进行分段测量支持导入和导出 dxf 文件以对比设定点/实际值 PCV 200 驱动装置采用砖利的测杆安装方式，无需工具即可完成可重复性测杆更换砖利测头系统，提高测量站灵活性手动可变扫描力，同样提高灵活性使用直线和圆弧合成标称轮廓方便比较标称和实际轮廓可通

详细介绍

技术数据

接触速度（Z 方向）	0.1 至 1 mm/s
测杆长度	175 mm, 350 mm
测量速度（文本）	0.2 mm/s 至 4 mm/s
针尖半径	25 µm
扫描长度末尾（X 方向）	200 mm
分辨率	Z 方向，相对探针针头：0.38 µm（350 mm 测杆）/ 0.19 µm（175 mm 测杆）在 Z 方向，相对于测量系统：0.04 µm
扫描长度开始（X 方向）	0.2 mm
取样角	在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77°
定位速度（文本）	X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s
导块偏差	< 1 µm（200 mm 以上）
测量范围 mm	（Z 方向）50 mm
扫描长度（文本）	0.2 mm 至 200 mm
测量力 (N)	1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中设置）