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JW-K型比表面及孔隙率测定仪

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JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪

精微高博公司研制系列比表面积分析仪、比表面积及孔径分布仪、BET法比表面积仪、比表面积测定仪等，技术参数如下：

主机功能：（1）吸（脱）附等温曲线测定

（2）孔径分布测定

（3）BET比表面测定，并可测定吸附常数C 值

（4）比表面快速测定（直接对比法）

测定范围：（1）孔径：2nm～200nm (2) 比表面：0.1~3500㎡/g

测量原理：动态常压连续氮吸附法（国内*）

气体：高纯氮（99.99%）、高纯氦（99.99%）

气体流量： ≤100mL/min

流量控制：稳压稳流系统，高精度流量传感器，数字显示，显示精度0.1%

测量压力：常压

氮气相对压力：调节范围 0.05-0.98

测量重复精度：≤±3%

测试时间：（1）BET比表面：平均每个样品30分钟

（2）孔径分布：平均每个样品3～4小时

（3）数据采集：恒流电路，气体浓度传感器工作站，放大及滤除杂波系统，采集速度100次/秒。

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