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东莞市勤卓环境测试设备有限公司
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电子元器件冷热冲击高低温老化试验箱又名高低温冲击试验箱、快速温度变化，产品主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车零部件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化
1.电子元器件冷热冲击高低温老化试验箱详细参数：
| 两箱式冷热冲击试验箱 分高温区、低温区两部分，测试样品放置在其中一个工作室内，通过气动方式实现样品在高低温室的切换，完成冷热温度冲击测试。之蓄热、蓄冷结构确保试验箱恒温性能良好。 |
| COK-50-2H 注：风冷型不用安装冷却水塔，水冷型则要安装，依客户要求而定。 |
| 本试验设备禁止： ①易燃、易挥发性物质试样的试验或储存 ②腐蚀性物质试样的试验或储存 ③生物试样的试验或储存 ④强电磁发射源试样的试验或储存 |
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标称内容积 | 150L |
提篮尺寸 | W500*H600*D500mm |
外箱尺寸 | W1800*H1900*D1540mm |
冲击温度 | -40℃~150℃ |
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| 环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下 GB/T 5170.2-1996 温度试验设备。 |
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5.3.1.高温室 | +60℃→+180℃ |
5.3.2.升温速度 | 升温 +60℃→+180℃ ≤25min 注：升温时间为高温室单独运转时的性能 |
低温测试区 |
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5.4.1.温度范围 | -55℃～-10℃ |
5.4.2.降温速度 | 降温 -10℃ → -55℃≤35min 注：降温时间为低温室单独运转时的性能 |
试验方式 |
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5.5.1.试验方式 | 试验吊篮通过气动方式使样品在高温和低湿测试区相互切换。 |
5.5.2.温度冲击范围 | （+50～+150）℃/（-40～-10）℃ |
5.5.3.温度波动度 | ±0.5℃ |
5.5.4.温度偏差 | ±2.0℃ |
5.5.5.温度恢复间 | ≤3~5min |
5.5.6.温度转换间 | ≤10sec |
5.5.7.测试功能 | 可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，具有高低温交变试验箱的功能。 |
| GB/T 2423.1-2008 试验A：低温试验方法 GB/T 2423.2-2008 试验B：高温试验方法 GB/T2423.22-2002 试验N：温度变化试验方法 试验Na GJB 150.5A-2009 设备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验 GJB 360A-1996 温度冲击试验 GJB367.2-2001 通信设备通用规范 温度冲击试验 IEC 68-2-14 試驗方法 N ：温度变化 |
2.电子元器件冷热冲击高低温老化试验箱结构：
一、高温室
加热器：镍铬合金电加热器
风机：高温、环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机
二、低温室
加热器、冷却器：镍铬合金电加热、翅片式冷却器、蓄冷器
风机：离心风机
三、驱动装置
气动气缸：高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用
空气压缩机：提供驱动气动风门的压缩空气（选件）
四、制冷机组
制冷方式：机械压缩二元复迭制冷
制冷压缩机：半封闭活塞式
制冷剂：23/R404 环保型
冷凝器：不锈钢钎焊板式换热器
五、控制器
操作界面：6" 彩色液晶显示触摸屏，中文菜单提示
程序记忆容量：100 组用户程序（可自行编制，修改）
设定指标范围：时间：1分钟~99小时59分钟，循环：1~999循环
分辨率：温度： 0.01 ℃，时间： 1 分钟
输入：T型热电偶
控制方法：PID控制
附属功能：定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示
电源：AC380±10％V 50±0.5Hz，三相四线+保护地线
功率（kw）：20，21，22
冷却循环水：水压：0.2~0.4MPa,水温：≤30℃
压缩空气：0.5~0.7MPa
标准配置：试验箱状态表示灯,累时器1个,引线孔(25×100mm长圆型孔箱体左侧面)1个,驸马脚轮6个,调整脚4个
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