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深圳市鑫欧野仪器有限公司
日本新宇宙XP-703D半导体特气检漏仪(自动吸引式)特点:*适合于检测半导体特气的微量泄漏
日本新宇宙 XP-703D 半导体特气检漏仪(自动吸引式)
特点:
*适合于检测半导体特气的微量泄漏。
采用声光报警。
规格
型 号 | XP-703D |
检测对象气体 | 半导体材料气体(胂、膦、***、硅烷、氢气等) |
检测原理 | 热线型半导体式 |
采样方式 | 自动吸引式 |
可检测浓度 | 砷烷 磷烷 *** 硅烷 氢气 |
检测表示 | 蜂鸣器断续鸣响及指示灯闪烁 |
应答速度 | 10秒以内 |
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