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日置HIOKI LCR测试仪IM3523

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更新时间：2022-10-31 09:10:01浏览次数：122次

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产品简介

日置HIOKILCR测试仪IM3523特点●基本精度0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10A～50mA)●在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试

详细介绍

日置HIOKI LCR测试仪IM3523特点

● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)

● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。

● 内置比较器和BIN功能

● 2ms的快速测试时间
日置HIOKI LCR测试仪IM3523

LCR测试仪IM3523如何测电容：连续测量不同条件

在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。

LCR测试仪IM3523怎么用：顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能

为了使用1台LCR测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。IM3523的面板保存功能更，最多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

可靠的产线检查：接触检查功能

检查4端子测量时样品间的接触不良。测量LPOT?LCUR间和HPOT?HCUR间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

精度计算软件

仅需输入数值即可轻松计算精度。

日置HIOKI LCR测试仪IM3523基本测量参数

测量模式	LCR,连续测试
测量参数	Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程	100mΩ～100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程	Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [单位]* ～9.99999G [单位])(*为分辩率时的显示位数）只有 Z和Y显示真有效值 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.00000～9.99999) Q: ± (0.00～99999.9), Δ%: ± (0.0000%～999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率	40Hz ～200kHz (1mHz ～10Hz)
测量信号电平	正常模式 V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms CC模式: 10μA～50mArms,10μArms
输出阻抗	正常模式：100Ω
显示	单色LCD
测量时间	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比较器，分类测量(BIN功能)，面板读取/保存、存储功能
接口	EXT I/O(处理器)，USB通信(高速) 选件：RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源	100～240V AC，50/60Hz，50VA
尺寸及重量	260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件	电源线×1，使用说明书×1，CD-R(包括PC指令和样本软件)×1

以上介绍的就是日置HIOKI LCR测试仪IM3523，苏州洋嘉电子有限公司代理销售横河YOKOGAWA、是德（安捷伦）Keysight，艾德克斯ITECH、菊水等品牌产品。主要产品涵盖示波器、功率计、万用表、示波记录仪、网络分析仪、电源、直流电源、电子负载等电子测量仪器产品，产品种类齐全！欢迎垂询！