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M-Z光学干涉仪

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更新时间：2022-10-01 09:14:59浏览次数：75次

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四川物科光学精密机械有限公司

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产品简介

M-Z光学干涉仪通过比较被测物和参考物的相位（表现为条纹的变化），从而实现被测物的物理量的测量。

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产品介绍

M-Z光学干涉仪产品说明：

马赫-曾德干涉仪属于一种等光程比较干涉。通过比较被测物和参考物的相位（表现为条纹的变化），从而实现被测物的物理量的测量。马赫-曾德干涉仪通常用于测量透明介质折射率的微小变化，可用于气体、液体、透明固体、冲击波及热传导等方面的研究。

M-Z光学干涉仪技术参数：

参数	大值	小值	备注
视场	Φ500mm	Φ50mm
干涉条纹间距	无穷大	0.1mm
图像分析软件	满足干涉条纹背景滤波、二值化、细化与修像、标记、采样读数、物理参数计算读取等功能
成像传感器	数码单反相机、高速相机、记录干板
光源	532nm激光光源、632.8nm激光光源
其他	系统采用有效的减振方式