EDX-LE 能量色散型X射线荧光分析仪 |
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能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以*可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。 |
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| 降低运行成本、减少日常维护量 |
针对外检等可对多数产品以管理值为标准检测有害元素含量是否达标而使用的筛选分析，被进一步要求其提高现场操作性和降低运行成本。而EDX-LE就是为了应对这种需求开发出来的装置。 | |
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配备无需液氮型检测器
由于配备了无需液氮进行冷却的检测器，因此大幅削减了使用时的运行成本。
X射线光管自动老化功能
为延长X光管的寿命而进行的光管老化(稳定性运转)是装置管理上必*。在装置长期不运行的情况下，再次启动时需要对X射线光管进行老化处理，而该装置可自动执行该功能以防故障发生，进而提高操作性。
测试前的装置自检功能
为了随时得到准确的分析结果装置需要进行校正，而用户们希望尽可能在短时间内完成校正时的操作和判定。EDX-LE在开启仪器后会对能量校正和定量值校正的操作进行帮助，当需要进行校正时会自动进行校正。 |
自动老化功能
装置自检功能 |
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| 配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能 |
尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化，可进行RoHS法规5元素+氯元素(选配)的高速筛选分析。EDX-LE从开始分析到得到结果只需要(根据样品)约1分钟。不仅可进行高速筛选分析，同时维持了高可信性的分析水平。 | |
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简洁的高精度筛选分析
电源ON之后只需15分钟的稳定时间就可开始分析。 当对象元素含量合格与否的判定确认后，为缩短时间装置会自动停止测定，但该仪器也可进行高灵敏度、高可信性的分析。装置内置有1点工作曲线可进行无标样的定量分析。
下图为塑胶材料(PVC材料包裹的线材)的测定实例。管理标准简单的显示为OK、NG、灰色区域。 *本实例的管理标准设定为RoHS法规允许浓度标准。 |
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| 配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义 |
在日常操作中根据产品的不同会经常变更管理值，而该产品可以根据管理方法对筛选分析条件轻松自定义。从开始分析到制成分析报告所有操作都可以更有效的进行。另一方面，该装置在软件操作上配备了权限限制设定，从而避免了没有变更筛选分析条件权限的人员由于误操作而改变条件的现象。 | |
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筛选分析的简单设定
根据材质和元素设定阈值。根据阈值的输入方法来变更筛选分析的判定方式。阈值设定可依据根据材质的不同所显示的阈值下限。 |
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在分析报告中如何表示分析结果“低于阈值"“灰色区域"“阈值范围内"，也可自定义设置。 |
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分析报告的模版也可以设定。可在随机附带的模版中选择。 |
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条件保护功能
通过输入密码可变更筛选分析条件和环境设定等各类设定条件，从而提高软件操作的安全性和保密性。 |
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| 利用［筛选分析］画面、操作简单方便 |
操作简便，一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便·高精度地测定。 | |
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| 从主成分判定到条件选择全部实现自动处理 |
只需1次点击，便可根据预先登录的分析条件， 自动执行从测定到结果的一系列操作。 | |
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■ 校准曲线自动选择功能 |
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| 标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能 |
EDX-LE标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得RoHS/ELV/无卤素分析系统。
标准配置改变照射直径的准直器＆样品图像观察组件
测定异物或者测定包含多个部位的样品时，通过样品图像观察组件在观察样品的同时，可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时，可以使用准直器，更改X射线照射区域。(3, 5, 10mmφ) |
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形状校正功能
即使含量相同的样品，在形状和厚度不同时，X射线强度将发生变化，得到的定量值也会受到影响，EDX-LE通过使用BG内标法*，可以排除形状和厚度的影响，取得高精度结果。
※BG内标法：通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法 |
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测定结果列表管理
创建列表功能
已保存数据可以用Excel形式列表显示。 |
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| 超大样品室，可直接测试大型样品 |
超大样品室可以对应各种样品形态及大小。
采用超大样品室
可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身。 |
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| RoHS、卤素、Sb元素筛选分析套件 |
在RoHS/ELV、卤素筛选分析基础上实现Sb元素的测定
● 无需改造硬件
● 仅需替换管理样品
● RoHS指令、卤素和Sb元素的7种元素(Cd,Pb,Hg,Br,Cr,Cl,Sb)能够在「同一条件」下进行测定
※初次导入时需要本公司工程师进行软件设定的变更及性能确认。
※根据使用环境的不同有可能出现需要软件升级的情况。
规格 | 材 质 | 聚乙烯树脂 | | 大 小 | 48mm | | 厚 度 | 5mm | | 添加元素 | Cd, Pb, Hg, Br, Cr, Cl, Sb |
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可以同时进行Sb元素的筛选分析
RoHS指令、卤素和Sb元素的7种元素能够在“同一条件"下进行测定。 |
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EDX-LE测定Cl、Sb
塑胶中Cl、Sb
塑胶中Cl、Sb不同浓度の光谱比较
和RoHS筛选分析同样，EDX-LE 也可进行Cl、Sb的筛选分析。特别是Cl筛选分析可直接在大气环境下进行，大气环境中Ar和Cl的峰值区分明显。 |
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| 一般分析功能追加套件(选购件) |
RoHS/ELV筛选专用机型EDX-LE同样具备一般分析功能！
导入后特点
1. 可进行RoHS/ELV对象元素以外的定性·定量分析！
2. 根据分析目的的不同，可设定详细的分析条件和解析条件！
3. 可通过薄膜FP法分析多层膜的膜厚、组成及其附着量！
4. 可通过匹配功能进行钢种及种类的判断！
详细情况敬请咨询当地销售。 | |
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使用功能追加套件的分析实例 |
分析实例(左：不锈钢的定性、定量分析，右：镀层的膜厚测定) |
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匹配功能(钢种、种类判断) |
匹配结果
注)根据样品材质、膜层材质及膜厚的不同，有可能出现不适用本套件的情况。 |
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| 基本参数 |
| 技术参数： | | 品牌 | 日本岛津 | | 型号规格 | EDX-LE | | 满足法规要求 | ROHS/无卤/SONYSS00259 | | 测定原理 | X射线荧光分析法 | | 测定方法 | 能量色散型 | | 测定对象 | 所有固态(金属及其合金、塑胶)、液态、粉末类物质 | | 可测定元素数量范围 | 13Al~92U | | 元素检出限值 | PVC：Cd3.0ppm、Pb4.5.ppm(100sec)黄銅：Cd6.5ppm、Pb45ppm(300sec) | | 主要规格： | | 样品室尺寸 | W370*D320*H155mm | | 电源 | AC100V-240V+/-10%，150VA | | 检测效率 |
| | 开机预热时间 | 10分钟 | | 关机时间 | 10分钟 | | 金属测量时间 | 3分钟 | | 塑胶测量时间 | 1-2分钟 | | 液体测量时间 | 1-2分钟 | | 使用辐射量 | 很小,<1uSv/hr(正常操作情况下)得到国家豁免管理 | | 随机标样数量(免费) | 随机两块管理样品，内置六条工作曲线，管理样品是用于校正工作曲线的 | | X射线管 | Rh靶 | | 电压 | 5-50KV(自动可调) | | 电流 | 1-1000uA自动调整 | | X射线工作方式： | | 冷却方式 | 风冷(附风扇) |
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