光学测头

1.HP-C-VE测头是用于CMM系统的光学影像测量系统。2D光感CCD整合发光二极管实现一定视图区域内的工件测量，同时软件的光强调整完善了测量区域的照明条件。在每一个视图区域可以同时选择一个或多个测量对象（如孔径，边界等）。拥有HP-C-VE系统可以同时实现多传感器组合完成工件测量，并可支持多种测头更换架，完成影像系统到触测扫描系统的转换。

2.高精度非接触光学测头HP-OW-2.14，基于共聚焦白光技术，完成对3D玻璃多角度的完整扫描，实现对各类折弯角度玻璃的轮廓度和厚度测量。

HP-OW-2.14提供了能够与接触式扫描测头相媲美的精度与可靠性，同时实现更快的扫描速率、更大的测量范围以及光学非接触测量的通用优势。当需要高效的扫描测量，而接触式测头难以接近工件，或者零部件会在接触探测过程中变形或受损时，HP-OW-2.14将是高精度扫描的选择。

3.Precitec LR 是超高精度共焦传感器。不仅可以精密测量各种复杂、敏感、各种材料的工件表面要素，还可以对各种材料的高反射表面，抛光表面，易损伤表面以及暗表面测量。拥有当前市场上的纳米级分辨率。可实现在同一程序中与各种测头的自动更换。

4.HP-O：HP-O是用于单点或扫描模式下光学测量的固定测头解决方案。它使用的LSP-S2O测头可以与接触式测头使用标准测头更换架互换。它是旋转对称部件与易于测量的标准几何形状的理想选择。

5.HP-O Hybrid 将光学测针和接触式测针结合在同一配置中，HP-O Hybrid允许设置多达5根测针，最多包括4根光学测针。它可以在不更换测头的情况下实现测量技术之间的即时切换，使其成为高效和高精度关键测量的理想选择。

6.HP-O Flex：HP-O Flex使用HH-AS-OT2.5分度测头使用户能够在12240个不同的测头位置加载光学测针，使其成为需要高度可达性的复杂几何部件检测的理想选择。也可以使用标准测针更换架与接触式测针互换。

7.HP-O Adjudtable：HP-O Adjudtable是一个带有三轴接口的固定式传感器，可以在测量空间内完成测量角度的无极调整，以适应更复杂的测量任务。例如：无轴向平行特征的旋转对称零件。

8.HP-O Multi：HP-O Multi是一种多光路固定式光学测量方案，携带多达6种不同测针，校准后的测针可以采集接触式测针难以触及的特征。

9.HP-O Flex 90：HP-O Flex 90将光学测头的分度头以90度的角度安装，使光学测头可绕分度头的B轴旋转。它是测量需要水平找正的零件（如叶盘）的理想选择。