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标准装置

10 Hz ～ 10 kHz微弱磁场标准装置

装置简介

10 Hz～10 kHz微弱磁场是目前能够准确产生0.1 nT ～ 1μT范围交变微弱磁场装置，用于检定/校准测量线圈、交变磁强计、交变磁传感器的测量线圈常数、灵敏度、线性度、频响特性、噪声、漂移等参数。

技术指标

a)工作频率：10 Hz ～ 10 kHz。

b)复现磁场：0.1 nT ～ 1 μT，U=1.2×10^-2B+20 pT（k=2）。

10 Hz ～ 10 kHz弱磁场装置

装置简介

10 Hz ～ 10 kHz弱磁场装置为国防磁学计量装置，用于检定/校准交变磁场线圈、测量线圈、交变磁强计、交变磁传感器的磁场线圈常数、均匀区、测量线圈常数、灵敏度、线性度、频响特性等参数

技术指标

a)工作频率：10 Hz ～ 10 kHz。

b)复现磁场：1 μT ～ 1 mT，U_rel=8.6×10^-4（k=2）。

100 kHz ～ 30 MHz弱磁场装置

装置简介

100 kHz ～ 30 MHz弱磁场装置，用于磁场天线、指示天线的校准服务。

技术指标

a)工作频率：100 kHz ～ 30 MHz。

b)复现磁场：0.1 nT ～ 10 nT（100 kHz ～ 30 MHz），U_rel=10%（k=2）。

10 nT ～ 10μT（100 kHz ～ 10 MHz），U_rel=5%（k=2）。

40 Hz ～ 1 kHz中磁场装置

装置简介

40 Hz ～ 1 kHz中磁场装置是目前能够产生交变1 kHz、100 mT磁场的交变磁场装置，可为测量线圈、霍尔磁强计等中强磁场计量器具开展计量测试服务。

技术指标

a)工作频率：40 Hz ～ 1 kHz。

b)复现磁场：1 mT ～ 1 T，U=1.8×10^-2 ～ 0.7×10^-3（k=2）。

c)测量线圈常数：1 mWb/T ～ 0.01 Wb/T ,U_rel=1.1% ～ 0.62%（k=2）。

20 μT ～ 100 μT恒定磁场装置

装置简介

20 μT ～ 100 μT恒定磁场装置的准确度水平。可用于电磁辐射安全防护、石油勘探、石油钻井、海洋磁环境与资源调查等领域质子、光泵磁强计、磁场线圈的检定校准。

技术指标

a)复现磁场：1 nT ～ 20 μT，U=1 nT (k=2)。

20 μT ～ 100 μT，U=0.6 nT (k=2)。

b)磁场噪声：≤6 pT。

c)磁场稳定性：≤6 pT/h。

0.1 mT ～ 50 mT 恒定磁场装置

装置简介

0.1 mT ～ 50 mT恒定磁场装置用于径向和轴向磁强计的检定/校准。

技术指标

a)复现磁场：0.1 mT ～ 50 mT，U=5×10^-4 Br+0.1 μT（k=2）。

b)磁场工作区域：Φ30 mm×30 mm。

50 mT ～ 3 T恒定磁场装置

装置简介

50 mT ～ 3 T恒定磁场装置用于特斯拉计的检定/校准。

技术指标

a)复现磁场：50 mT ～ 3 T，U_rel=0.01% ～ 0.2%（k=2）。

0.01 A·m² ～ 10 A·m²磁矩装置

装置简介

0.01 A·m² ～ 10 A·m²磁矩装置为此范围内的磁矩，用于磁矩量具的检定校准及物体磁矩的测试等服务。

技术指标

a)复现磁矩：0.01 A·m² ～ 10 A·m²，U_rel=2.0×10^-3（k=2）。

b)磁矩常数：0.01 m² ～ 10 m²，U_rel= 4.4×10^-3（k=2）。

0.01 μT/m ～ 10 μT/m梯度磁准装置

装置简介

梯度磁场装置为目前几套可准确定量控制梯度磁场的装置，用于矢量梯度磁强计、梯度线圈的校准服务。

技术指标

a)背景磁场：20 μT ～ 120 μT。

b)复现梯度磁场：0.01 μT/m ～ 10 μT/m，U=15 nT/m（k=2）。

c)梯度线性均匀区：长1000 mm。

d)工作区梯度非线性：0.1%。

特色校准装置

磁通门磁强计校准装置

装置简介

磁通门磁强计校准装置可校准不同温度下磁通门传感器的准确度、灵敏度、线性度、噪声、漂移、正交度等参数。

技术指标

a) 复现磁场：-100 μT ～ 100 μT，U=0.06%B_r+3 nT（k=2）。

b) 温度范围：-150℃ ～ 150℃，U=2.5℃。

c) 线性度：≤1×10^-4。

d) 磁场噪声：≤0.1 nT(峰峰值)，磁场稳定性：10 pT/h。

e) 正交度：0.1°。

磁罗盘校准装置

装置简介

磁罗盘校准装置可校准静态和动态条件下的磁罗盘角度参数，考核数字磁罗盘在动态应用情况下的测量准确度。

技术指标

a)复现磁场：0 μT ～ 65 μT。

b)方位角：0°～ 360°，U=0.1°(k=2)。

c)横滚角：±180°，U=0.1°(k=2)。

d)俯仰角：±180°，U=0.1°(k=2)。

e)静态定位允许误差：±0.1°。

f)速率范围：0.5°/s ～ 50°/s。

g)速率允许误差：±0.1%（360°平均）。

磁电子传感器校准装置

装置简介

磁电子传感器校准装置可校准不同工作环境温度条件下磁电子器件的灵敏度、线性度等参数，帮助解决磁电子传感器的温度适应性问题。

技术指标

a)复现磁场：0.1 mT ～ 20 mT，U=0.1%B_r+0.05 μT。

b)温度范围：-55 ℃ ～ 160 ℃，温度偏差：±2 ℃。

低频微弱磁场校准装置

技术指标

a)磁场范围：0.3 pT ～ 1 μT，U_rel=0.5% ～ 1% （k=2）。

b)噪声：≤0.1 pT （5 Hz ～ 20 kHz） 。

旋转磁场校准装置

装置简介

旋转磁场校准装置可校准磁传感器、磁罗盘在较高转速下示值误差、方位角的动态性能。

技术指标

a)磁场范围：35 μT ～ 65μT。

b)工作区不小于Φ100 mm。

c)旋转磁场转速：60 r/min ～ 1800 r/min。

d)角度测量不确定度：2°（k=2）

霍尔磁强计温度特性校准装置

技术指标

a)磁场范围：10 mT ～ 2 T，U=1×10^-4 ～ 1%（k=2）。

b)温度：0 ℃ ～ 60 ℃ 。

磁化率测量装置

装置简介

磁化率测量装置可以用于测量1g ～ 50 kg的E1、E2、F1、F2等级砝码磁化率和磁性，也可以用于弱磁材料磁化率的检测。

技术指标

a)磁化率测量范围：5×10^-6 ～ 1。

相对测量不确定度：U_rel=0.1（k=2）。

b)磁性测量范围：0.1 μT ～ 1 mT。

相对测量不确定度：U_rel=0.2（k=2）。