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镀层测厚仪XRF-650T X荧光射线膜厚分析仪 镀层检测仪

镀层测厚仪XRF-650T X荧光射线膜厚分析仪 镀层检测仪
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更新时间：2023-03-08 20:59:14浏览次数：255次

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产品简介
XRF-650T是测镀锌层厚度的仪器，专门用于镀锌层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。

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