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数显显微熔点仪SGW®X-4

数显显微熔点仪SGW®X-4

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更新时间：2022-01-17 09:59:07浏览次数：164次

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产品简介
特点：测定物质的熔点

详情介绍

特点：

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

主要技术参数：

熔点测量范围：室温至320℃

测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）

±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）

温度显示最小值： 1℃

熔点观察方式 单目显微镜

光学放大倍数 40×


本公司产品的技术参数、价格等随产品发展而更改，请随时联系，以实际出厂产品为准。

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