高频微波介电常数试验仪 返回列表页

高频微波介电常数试验仪

Q表法的信号源频率覆盖范围10kHz～110MHz；

1、电容直接测量范围：1pF～2.5uF；主电容调节范围：30～540pF；

2、电感测量范围：1nH～8.4H，分辨率0.1nH，测量误差＜3%；电感组LKI-1：分别由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成

3、S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置（可选液体杯，液体杯内径Φ48mm、深7mm）

4、谐振点频率自动搜索功能*

调谐电容有步进马达带动，根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。

　　工作频率值、频段、主调电容器值、谐振电感值、Q值、Q值比较设置状态、Q值量程、手/自动状态、频率或电容搜索指示、Q值调谐指示带、，都显示液晶屏上，如图所示。

　　图 

　　整个显示屏共分为四行

　　第yi行：左边 信号源频率指示，共6位

　　右边 信号源虚拟频段指示（1-4）

　　第er行：左边 调谐电容指示值，4位

　　右边 电感指示值，4位

　　第三行：左边 Q值指示值

　　右边 Q值合格比较状态

　　第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示

　　右边上部 Q值量程范围指示

　　右边下部 Q值调谐光带指示

满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

一、  高频微波介电常数试验仪概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、  测试原理

采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。