高频介电常数测试仪10K-70MHZ 返回列表页

高频介电常数测试仪10K-70MHZ电气绝缘材料的性能和用途电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；

用作电容器介质。影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的％和切澎几乎是恒 定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和 电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，最重要的变化是极性分子引起的偶 极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。

温度损耗指数在一个频率下可以出现一个最大值，这个频率值与电介质材料的温度有关.介质损耗因 数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数最大值位置。湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数 和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制的.

工作特性

   1．Q值测量

   a．Q值测量范围：2～1023；

   b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；

c．标称误差

注：湿度的显著影响常常发生在1 MHz以下及微波频率范围内。

电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数最大值的大小和位置也随此 而变。

在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。

高频介电常数测试仪10K-70MHZ在测定电容率需要较高精度时，最大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚 度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。 对1%的精确度来讲，1. 5 mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，最好是采用较厚的试样，例如 6 mm〜12 mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在± 1 %内。 如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样 电容。测量10 pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1 pF,因此 试样应薄些，直径为10 cm或更大些。需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引入的损耗要尽可能地小，即被测电容和该 电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。第一点表示导线电阻要尽可 能低及试样电容要小，第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大，因此试样电 容最好取值为20 pF,在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5 pF0